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AI-6000现场介损测试仪 测试接线及设置图谱 （现场试验用） 衡益测控技术有限公司 技术部 编 2001.05 5．常见试品现场测试接线及设置图谱 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 5.1 电容型套管、电容型电流互感器 （1） 结构特点： 主电容C1由多级容屏组成；末屏对外壳C2弱绝缘； 属低压端不直接接地类试品；(运行时末屏直接接地)。（2）等效电路： H：中心铜管 C1：主电容 L：末屏引出小套管 C2：末屏对地电容 E：法兰座 （3）C1测试：低压侧采样（正接） 接线： 图 5.1 设置： C2测试：高压侧采样（反接） 接线： 图 5.2 设置： （5）说明： a 现场测试变压器套管的C1时，习惯将三相套管及中心 点套管高压侧联在一起，同时加压。这时非测试相的电容C1只增加试验电源的负载，对被测套管C1 的测试结果没有影响，但需切记：非测试相套管的末屏必须接地，若不接地，经该相C1 传递至末屏引出小套管的电压将使小套管处放电，影响正常测试；在测试C2 时，必须将高压端独立悬空，若不独立悬空将直接影响测量结果的正确性。 b 电容型电流互感器的绝缘结构，与电容型套管类同，故可用相同方法测试。 5.2串激式电流互感器（L型） （1）结构特点： 主绝缘实际上是由两部分串联组成，即高压线圈对一次电流互感器的铁芯（运行时铁芯电位是悬浮的）及一次CT铁芯对二次20A线圈。当此二次线圈接地引线接地时，属低压侧直接接地试品，如将此引线解开又可当作不直接接地试品。由于结构上的原因，此类试品的电容值较小。 （2）等效电路： H ：高压引线 CH：高压线圈对一次CT铁芯之间的电容 Fe：一次CT铁芯（电位悬浮） CL：一次CT铁芯对一次CT二次20A线 圈之间的电容 L ：一次CT二次线圈的接地引线 E ：外壳 注：CH 、CL 实际是无法单独测量的，实 际测量的是CH 、CL 串联后的电容值C （3）测试接线： a 低压侧采样（正接） 接线： 图 5.3 设置： b 高压侧采样（反接） 接线： 图 5.4 设置： （4）说明： a 由于此试品电容量小，因而公认易受干扰，不易测准； b 低压侧采样（正接）时，H点无需拆除引线，但需断开一次电流互感器的二次线圈的接地引线。此法受干扰小，准确性高；高压侧采样（反接）时，无需断开一次电流互感器二次线圈的接地引线，比较方便，但是H点对地不得有其它电容。（最好拆除引线）否则将严重影响测量的准确性，为此宜首推采用低压侧采样（正接）法测试。 c 此类结构的互感器已将淘汰，但现场还有相当数量在运。 d 如在测试时断开接地引线，则在测试完毕必须立即恢复，否则投运后将引起一次CT二次线圈，也即二次CT的一次线圈对地击穿。 5.3 串激（电磁）式电压互感器 结构特点： 该互感器为电磁式结构，与一般单相变压器的绝缘结构相同，唯高压尾（X端）引出为弱绝缘，且运行时直接接地。故测试方法及接线与单相变压器类同。 运行中高压线圈对低压线圈及铁芯外壳之间的电容具有分布特性。 （2）等效电路： L1: 高压绕组 L2: 低压绕组 A: 高压绕组头 X: 高压绕组尾 a、x: 低压绕组引出端子 CAL2、CXL2: L1对L2分布电容 CAE、CXE: L1对外壳(地)的分布电容 测试接线： a 高压短接， 高压侧采样 （反接） 图5.5 设置 注：测量高压对低压及地 b 低压短接，高压侧采样（反接） 接线： 图 5.6 设置： 注：测量低压对高压及地 c 高压侧激磁,低压侧采样(正接) 接线: 图 5.7 设置: 注：以类似运行中的分布参数状态测高压对低压（不含地、铁芯） d 高压侧短路，低压侧采样（正接） 接线: 图 5.8 设置: 注：测高压对低压（不含地、铁芯） 说明： a）电磁式电压互感器类似于一般变压器，因而一般情况下，应以“a”接线测量，只有当发现有绝缘缺陷后为确定缺陷部位才