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 实验1  
一、实验目的:  1.学习P1口的使用方法。  2.学习延时子程序的编写和使用。二、实验设备:  EL-8051-III型单片机实验箱三、实验内容:  1.P1口做输出口,接八只发光二极管,编写程序,使发光二极管循环点亮。  2.P1口做输入口,接八个按纽开关,以实验箱上74LS273做输出口,编写程序读取开关状态,在发光二极管上显示出来。四、实验原理:  P1口为准双向口,P1口的每一位都能独立地定义为输入位或输出位。作为输入位时,必须向锁存器相应位写入“1”,该位才能作为输入。8031中所有口锁存器在复位时均置为“1”,如果后来在口锁存器写过“0”,在需要时应写入一个“1”,使它成为一个输入。  可以用第二个实验做一下实验。先按要求编好程序并调试成功后,可将P1口锁存器中置“0”,此时将P1做输入口,会有什么结果。  再来看一下延时程序的实现。现常用的有两种方法,一是用定时器中断来实现,一是用指令循环来实现。在系统时间允许的情况下可以采用后一种方法。  本实验系统晶振为6.144MHZ,则一个机器周期为12÷6.144us即1÷0.512us。现要写一个延时0.1s的程序,可大致写出如下: ????????? MOV R7,#X (1)??? DEL1:MOV R6,#200 (2)??? DEL2:DJNZ R6,DEL2 (3)????????? DJNZ R7,DEL1 (4)  上面MOV、DJNZ指令均需两个机器周期,所以每执行一条指令需要1÷0.256us,现求出X值:    1÷0.256+X(1÷0.256+200×1÷0.256+1÷0.256)=0.1×10?  指令(1) 指令(2) 指令(3) 指令(4)  所需时间 所需时间 所需时间 所需时间    X=(0.1××10?-1÷0.256)/(1÷0.256+200×1÷0.256+1÷0.256)=127D=7FH  经计算得X=127。代入上式可知实际延时时间约为0.100215s,已经很精确了。五、实验原理图: 		六、实验步骤:  执行程序1(T1_1.ASM)时:P1.0~P1.7接发光二极管L1~L8。  执行程序2(T1_1.ASM)时:P1.0~P1.7接平推开关K1~K8;74LS273的O0~O7接发光二极管L1~L8;74LS273的片选端CS273接CS0(由程序所选择的入口地址而定,与CSO~CS7相应的片选地址请查看第一部分系统资源,以后不赘述)。 		七、程序框图: 		八、参考程序:??? 1、循环点亮发光二极管(T1_1.ASM)???????? NAME T1_1???????? CSEG AT 0000H???????? LJMP START???????? CSEG AT 4100H? START: MOV A,#0FEH?? LOOP: RR A????????? MOV P1,A???????? LCALL DELAY????????? JMP LOOP? DELAY: MOV R1,#127??? DEL1: MOV R2,#200?? DEL2: DJNZ R2,DEL2???????? DJNZ R1,DEL1???????? RET???????? END??? 2、通过发光二极管将P1口的状态显示(T1_2.ASM)???????? NAME T1_2 ;P1口输入实验???????? OUT_PORT EQU 0CFA0H???????? CSEG AT 0000H???????? LJMP START???????? CSEG AT 4100H? START: MOV P1,#0FFH ;复位P1口为输入状态???????? MOV A,P1 ;读P1口的状态值入累加器A???????? MOV DPTR,#OUT_PORT ;将输出口地址赋给地址指针DPTR???????? MOVX @DPTR,A ;将累加器A的值赋给DPTR指向的地址???????? JMP START ;继续循环监测端口P1的状态???????? END				
实验2
一、实验目的:???? 1、学习P1口既做输入又做为输出的使用方法。???? 2、学习数据输入、输出程序的设计方法。二、实验设备:???? EL-8051-III型单片机实验箱三、实验原理:?? P1口的使用方法这里不讲了。有兴趣者不妨将实验例程中的“SETB P1.0, SETB P1.1”中的“SETB”改为“CLR”看看会有什么结果。?? 另外,
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