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CCD的性能测试实验报告 ------02袁田甜 实验目的：测试CCD的性能参数（暗流，曝光时间和制冷温度）并找到它们的关系。 实验原理；CCD是电耦合器件：组成电荷耦合器件的基本元件(光敏元件)是电荷贮存电容器，它采用电荷耦合的方法将二维的信号输出 CCD性能优良，这主要表现在： 量子效率高：这是它最大的优点，平均而言量子效率可达30%～50%，大约是一般照相底片的100倍；最高可达90%。 分光相应范围宽：CCD的分光响应范围为400～1100nm，比一般照相乳剂的灵敏波段范围（350～700nm）向近红外波段延展了很多。 线性好：成像强度与入射光流量成正比，而且有很好的线性关系。 动态范围宽：动态范围是指可探测的最暗星与最亮星的星等差。CCD的动态范围可达105，远远优于底片。 分辨本领高。像素的尺度越小分辨率越高。目前生产的CCD其像素尺度为9～25μm ，这与细颗粒的底片分辨本领相当。 CCD使用中也存在一些需要注意解决的问题和困难： CCD成像面积越大技术制造上越困难；采用小面积拼接的办法也需要尖端技术的支持。 存在零秒曝光，即在不露光的情况下，由于栅偏压而引起的电子潜像也存在，这应在观测资料处理中加以扣除。 CCD与光电倍增管一样也有暗流，即在无光照时也有输出。暗流随温度而改变，一般每降低5～7℃，暗流就减小一半。所以应将器件冷却到足够低的温度。专业应用的CCD常用液氮（装在杜瓦瓶内）制冷，使温度低于 -110℃；业余观测使用的CCD系统，多采用半导体制冷。观测时需要单独测定暗流，并在资料处理中加以扣除。 CCD器件各个像素的量子效率不一，这种基底（也叫“平场”）的不均匀性会造成成像失真。因此观测天体之后通常要测定平场，即利用一均匀光源照射或对天空背景进行单独观测，存储其图像，然后在资料处理中加以扣除掉（天体的图像除以平场）。 本实验主要对暗流拍摄和分析，使用ST7和ST9种型号。 实验步骤 1.将CCD与计算机连接，将CCD连线连接在计算机的USB口上 2.给CCD和计算机加电，启动CCD和计算机 3.启动CCDops for Windows 软件。该软件在启动时，自动检测CCD并进行软件连接 4.启动CCD制冷装置。在CCDops环境下，鼠标单击“Camera”菜单项，在该项下拉菜单中选择“setup”项，出现CCD设置对话框。“Temperature regulation”列表框中有两个选项：“off”-—关闭制冷系统；“Active”—-打开制冷系统。“setpoint”正文框内输入设置的最低温度（最低只能比环境温度低30°～40℃），单击“ok”按钮，即可启动CCD制冷系统。此时，在CCDops窗口下方的“Temp……” 提示框内显示当前CCD的工作温度。 5.用不同的时间拍暗流（如30秒、60秒、120秒），并将拍摄的图像分别存储在硬盘上，可供以后处理资料时选用。方法如下：单击“Camera”菜单项，选择“Grab”选项，出现“Grab”对话框，可设置曝光时间，以秒为单位，最短为0.1秒。“Dark frame”列表框中有三个选项：“Only”为仅拍摄暗流（本实验选此项），“Also”为用相同曝光时间先拍暗流，再拍天体。“None”只拍摄天体。“Image size”列表框有三个选项：“Full”---满屏拍摄512×512 pixel；“Half”---拍中心区域1/2×1/2大小；“Quarter”拍中心区域1/4×1/4大小。 其它选项用默认值，单击“ok”按钮，即开始曝光拍暗流。每拍完一幅，应用“File”菜单项下的“Save as”项保存此暗流图像文件。 比较分析暗流。 根琚不同曝光时间，选取不同的温度，大家共拍了一暗流值，整理如下表： ST9 温度 暗流 时间（s） 温度 暗流 时间（s） 温度 暗流 时间（s） 11.16 106 1 -2.74 100 5 -6.06 100 10 9.78 105 -9.33 107 12.56 112 11.63 105 -11.87 100 -11.87 101 -9.37 99 -10.2 99 -10.2 100 -6.06 100 -6.06 100 -8.13 99 -6.47 99 1.03 102 7.53 107 12.56 106 13.51 110 10.24 110 -11.45 100 7.97 104 -0.65 101 -2.32 100 -7.3 99 -7.97 100 温度 暗流 时间（s） 温度 暗流 时间（s） -8.96 101 15 -10.2 100 20