软X射线全息平焦场光栅的条纹弯曲现象及其对光谱分辨率的影响.pdfVIP

物理 学 报 ActaPhys．Sin．Vo1．63，No．23(2014) 234203 软X射线全息平焦场光栅的条纹弯曲现象及其 对光谱分辨率的影响冰 陈火耀 ) 刘正坤 )十 王庆博 ) 易涛2) 杨国洪2) 洪义麟 ) 付绍军 ) 1)(中国科学技术大学国家同步辐射实验室，合肥 230029) 2)(中国工程物理研究院激光聚变研究中心，绵阳 621900) (2014年5月22日收到；2014年7月26日收到修改稿) 软X射线平焦场光栅光谱仪是等离子体诊断的重要仪器，其核心光学元件全息平焦场光栅通常采用非球 面波记录光路制作，因此光栅条纹存在弯曲的现象．光栅条纹的弯曲会影响光谱成像质量，从而影响系统的 光谱分辨率．记录光路的优化，只保证光栅子午面的线密度分布，因此优化的记录光路并不是惟一的，所 以 在保证子午面的线密度分布的同时能制作具有不同弯曲程度条纹的光栅．针对应用于0．8—6nm的全息平焦 场光栅，利用光线追迹方法分析了不同弯曲程度条纹光栅的光谱成像，发现采用柱面反射镜制作的接近于直