红外偏振探测的机理.pdfVIP

第37卷第5期 红外与激光工程 2008年 1O月 V01．37NO．5 InfraredandLaserEngineering 0ct．2008 红外偏振探测的机理 刘必鎏 ，时家明，赵大鹏 ，许 波 (电子工程 学院 安徽省红外与低温等离子体重点实验 室，安徽 合肥 230037) 摘 要：偏振探测技术 已经成为一种重要的探测手段 ，其机理研究对红外偏振探测的实际应用和 结果分析具有重要的理论指导意义。综述了偏振产生的机理 ，如反射、热辐射和散射 ，分析 了物体的表 面特性如粗糙度、色泽和 电导率等对光的偏振特性 的影响，并借助多人的实验加 以辅证 。发现当入射 角等 于布儒斯特角时，反射光的线偏振度达到最大值 ；多次散射使光的偏振方 向不断偏转 ，经统计平 均后降低 了反射或散射光的偏振度；亮的粗糙表面的反射光以多次反射为主 ，表现 出较 小的线偏振 度；通过检测反射光偏振角的相位差可 以确定 目标是金属还是绝缘体 。 关键词 ：偏振 ； 偏振探测 ； 机理； 表面特性 中图分类号 ：PI61．3 文献标识码 ：A 文章编号 ：1007—2276(2008)05—0777—05 M echanism ofinfrared polarization detection LIU Bi-liu，SHIJia—ming，ZHAO Da-peng，XU Bo (KeyLabofInrfaredandLow TemperaturePlasmaofAnhuiProvince，ElectronicEngineeringInstitute，Hefei230037，China) Abstract：Thetechniqueofpolarizationdetectionhasalreadybecomeanimportantmethodofdetection， andhteresearchofitsmechanism isimportantinhteapplicationandhteanalysisofhteresultofhteinfrraed polarization detection．The mechanism ofpolarization formation was summarized．Reflection，htermal- radiationandscattering，whichwouldcausepolarizationrespectively，werelistedastheexamples．Theeffects ofsurfacechraactersonpolarization，suchasroughness，lusterandelectricconductivity，were alsostudied．The linearpolarization degreeofhte reflected lightreached maximum when the incidentnaglewasequalto hte BrewsterS angle．The multiple scattering causesthe deflexion ofhte polarization d~ection，which would reducehte polarization degree afterstatistic average．Th e reflected lightofhtebrightand rough surface has a smalllinearpolarization degree because ofmultiple reflections．The phase difference of polarization angleofhtereflectedlightbetween htemetalandthei