频域滤波的高光去除方法.pdfVIP

激光与光电子学进展 ， （ ） Ｌａｓｅｒ＆ Ｏ ｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓＰｒｏ ｒｅｓｓ 《 》 ２０１３ 　 ｐ 　 ｇ Ｃ ２０１３ 中国激光 杂志社 ○ 基于频域滤波的高光去除方法 １ ２ １ ２ 柴玉亭 王 昭 高建民 黄军辉 　 　 　 　 １ ， 西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室 陕西西安 ７１００４９ （ ２ ， ） 西安交通大学机械工程学院 陕西西安 ７１００４９ ， ， 摘要 结构光三维测量广泛应用于测量物体外轮廓 但使用这种技术测量金属零部件时 会由于金属表面的局部 　 ， 、 ， ， 。 强反射形成高光区域 这种高光致使相机饱和 信息丢失 造成条纹中心提取不准确 从而产生较大的测量误差 ， 。 ， 因此 寻找一种有效的手段来避免高光问题是非常必要的 基于结构光测量系统自身的特点 提出一种新的高光 ——— 。 ， ， 去除方法 频域滤波法 该方法将高光视作噪声 通过对比分析漫反射光条和高光光条频谱分布的不同 制作 。 ， ， 合适的滤波器以滤除高光 通过 软件仿真 模拟高光效果 测试频域滤波后的条纹中心提取精度比不滤除 ３ｄｓｍａｘ 。 ， 。 ， 前提高０．８ ｉｘｅｌ 将该方法应用于实际叶片测量中 较好地解决了其中的高光问题 仿真和实验均证明 频域滤 ｐ 波法可以在一定程度上降低高光对结构光条纹中心提取准确度的影响。 ； ； ； ； 关键词 测量 结构光三维测量 高光去除 频域滤波 条纹中心 　 中图分类号 文献标识码 ： ／ ＴＨ７４１ Ａ ｄｏｉ １０．３７８８ＬＯＰ５０．０５１２０５ 　 　　　 　 　　　 Ｈｉ ｈｌｉｈｔＲｅｍｏｖａｌＢａｓｅｄｏｎＦｒｅ ｕｅｎｃ ＤｏｍａｉｎＦｉｌｔｅｒｉｎ 　 　 　 　 － 　 ｇ ｇ ｑ ｙ