超低飞高气膜浮动块生成负压影响因素研究.pdfVIP

第 23 卷第 2 期 计 算 力 学 学 报 Vol.25,No.2 2006 年 4 月 Chinese Journal of Computational Mechanics Aprial 2 0 文章编号：1007-4708(2008)01-0076-05 超低飞高气膜浮动块生成负压的影响因素研究 *,1 1 2 1 史宝军 , 季家东 , 杨廷毅 , 王忠雷 (1. 山东建筑大学机电工程学院 济南 250101 ； 2. 山东大学机械工程学院 济南 250061) 摘 要：随着计算机存储技术的发展，硬盘(Hard disk drives, HDDs) 中浮动块的表面形状越来越复杂，浮动块与磁盘间飞行高 度持续降低。采用一种无网格法—最小二乘有限差分法(Least square finite difference, LSFD)，对简化的雷诺方程进行求解，研 究了气膜浮动块产生负压的影响因素。数值结果表明：在浮动块的头部区域，飞行高度越高，压力分布越高，而在浮动块的 尾部区域，飞行高度越高，压力分布越低。由于表面纹理的变化，系统压力分布出现负压，且负压出现在飞行高度由低到高 的过渡区域。浮动块俯仰角和表面纹理幅值对负压的大小以及负压生成区域的数目影响较大，最小飞行高度的变化不会影响 负压区域的数目和位置。 关键词：硬盘；气膜；雷诺方程；负压；无网格法 中图分类号：TH117.1 文献标识码：A * 的非接触起停式负压磁头滑块模型，并通过求解雷 1 引言 诺方程，研究了其稳态气动力学特性。戴斌等[8]对 随着计算机存储技术的发展，硬盘(Hard disk 飞行高度为 50 纳米的两种负压浮动块的静态特性 drives, HDDs)的存储速度、读取速度以及存储容量 进行了数值仿真，并探讨了浮动块表面凹槽深度对 等获得大幅提高，但同计算机的中央处理器(CPU) 气膜承载力的影响。然而，现代浮动块与磁盘间的 相比，硬盘仍是阻碍计算机整体性能提高的关键因 距离也已减小到只有几个纳米，对于超低飞高气膜 素之一。如今，随着硬盘中磁记录存储密度的逐步 浮动块生成负压影响因素的研究较少。Li[9]采用最 提高，相应地浮动块与磁盘间的距离也已减小到只 小二乘有限差分法(Least square finite difference, 有几个纳米[1-2] 。在这样小的间隙中，磁头/磁盘之 LSFD)[10-11]对几种负压浮动块的压力分布进行了数 间气体的稀薄效应显著增强，表面粗糙度、分子力 值模拟。SHI 等[12]基于雷诺方程的 FK 模型[13]提出 等纳米尺度效应不容忽视[3-5] 。为了适应飞行高度降 了一种修正雷诺方程的分段线性流率(Linearized 低的要求，提高系统的静/动力学性能，出现了负压 flow rate, LFR)模型，并基于此模型对几种典型负压 磁头磁盘系统，也由此带来了一系列的研究问题。 浮动块的压力分布进行了数值模拟，与 FK 模型相 负压浮动块是为了满足超低飞行高度应运而生 比，LFR 模型具有简单的数学表达式并且计算时间 的。负压浮动块工作时，腔体内可以产生低于环境 短、模拟精度高。 压强的气压，这样可以实现在不改变原有预载力的 本文基于考虑气体稀薄效应修正雷诺方程的