三相全波整流磁粉探伤设备系统性能有关问题的探讨.pdfVIP

三相全波整流磁粉探伤设备系统性 能有关问题的探讨 李本事 (中国人民解放军第5719工厂) 摘要：通过一系列试验，发现一些能对磁粉检测系统性能产生重要影响、平时有不被关注的因素， 本文试图对这些影响因素进行深入、详尽阐述，帮助磁粉检测人员更好的控制磁粉检测系统性能。 关键词：三相全波整流；系统性能；AS5282试块；电流波形 1问题的提出 E 随着国内企业与欧美航空企业业务往来的越来越频繁，依据ASTM1444校验三相全波整流设备 E 系统性能被广泛应用。依据ASTM1444要求，Ketos01环和AS5282环是磁粉检测系统性能校验最 常用的两种试块，AS5282试块因其有比Ketos01环更广的校验范围而得到更广泛的应用，同时，也因 许多磁粉检测系统达不到其500A显示3孑L的要求而令使用单位作难，为此，有必要对磁粉检验系统性 测试能做更进一步的分析，以确定磁粉检测系统性能测试达不到标准要求的具体原因。 2试验情况 本人所在单位有一台三相全波整流磁粉探伤机，用AS5280试块校验系统性能不合格，为找出具体 原冈，进行了大量的试验，以下是针对该设备所做试验的具体情况。 2．1 实验条件 国产6000型三相全波整流磁粉探伤机一台，AS5282试块4块(A公司3块，B公司1块)，电流表 精度测试数据见表1，磁悬液浓度0．25ml／100ml(磁粉为14A，载液为Carrie2)，无污染，黑光灯强度 3200 pW／cm2，经校验的高斯计(型号：5170)。 表1电流表精度(单位：A) 设定值 100 490 950 l400 2300 3200 6000 电流表显示值 106 504 987 1456 2306 3360 6142 安培表分流器显示值 123 513 989 l454 2330 3340 6170 2．2不同电流波形同种试块的显示情况 当整流电流波形如图1所示时，通500A的磁化电流、通电时间0．8S、连续法施加磁悬液，发现 停止浇注磁悬液后再通电2次(共3次)的3孑L显示情况与再通电5次(共6次)无明显区别(均只能 在3孔形成模糊显示)。当波形如图2所示时，同样通500A的磁化电流、通电时间0．8S、连续法施 加磁悬液，发现停止浇注磁悬液后再通电5次(共6次)的3孔显示情况比通电2次(共3次)明显清 晰。为减少磁悬液液流对磁痕的影响、提高试验结果的可比性，第2次通电紧接着第1次通电进行， 第3次通电均在磁悬液液流刚好呈不连续状时进行，第4、5、6次通电则在第3次通电并观察结束后 连续进行。 ·662· 图1 图2 2．3 电流值500 A时同种电流波形不同试块的显示情况 由同一操作人员通500A电流分别用4块试块(A公司3块分别命名为A。、A：、A。)采用湿荧光连 续发测试系统性能，发现A1四孔显示模糊、A。三孔显示模糊、A。三孔几无显示，B公司1块试块4孔能 有良好显示。 注：作者所谓3孑L模糊，则4孑L无显示；所谓3孑L清晰，则4孔有微弱显示，依次类推。 2．4试块的外形尺寸测量 分别测试4块试块的最大外径、孔径、第一孔中心离边缘的距离，发现A公司生产的试块孔径均为 1．5mm(AS mm±0．13 mm 5282要求1．78 ram)，有一块埋深最浅的孑L中心到试块外缘的距离为I．35 (AS mm±0．12 5282要求1．78 ram)，其他尺寸符合AS5282要求。B公司生产的试块则完全符合AS 5282要求。 2．5修正试块外形尺寸后的情况