多值逻辑电路测试地敏化路径法研究.pdfVIP

第25卷第4期增刊 仪器仪表学报 2004年8月 多值逻辑电路测试的敏化路径法研究+ 潘中良 (华南师范大学物理与电信工程学院广州 510631) 摘要 多值逻辑和多值逻辑电路近年来得到了越来越多的应用，研究多值逻辑电路的测试，给出了采用敏化路径法计算给定 故障测试矢量的方法，并对多故障的测试生成进行了研究。结果表明若同时对故障位置的多条路径进行敏化，则可以方便地 求出故障的测试矢量。 关键词 多值逻辑电路 固定型故障测试生成路径敏化 for Generationof Path MethodTest Multiple—valued Sensitizing Circuits Logic Pan