国立清华大学化学系全反射式X光萤光仪」管理及使用要点.docVIP

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2017-08-19 发布于贵州
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国立清华大学化学系全反射式X光萤光仪」管理及使用要点.doc

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國立清華大學化學系「全反射式X光螢光儀」管理及使用要點一、儀器簡介 ● 儀器中文名稱： X光螢光儀　● 儀器英文名稱：Total Reflection X-Ray Fluorescence ● 儀器英文簡稱： TXRF ● 儀器說明：儀器購置年月：2011年 3 月儀器經費來源：廠牌及型號： Bruker S2-PICOFOX 放置地點：清華大學化學館R310 靶材：Mo靶光源偵測器：氣冷式之silicon drift detector，不需使用液態氮。偵測極限可達50 ppb 主要附件：石英樣品盤樣品座一組樣品/數據處理系統二、儀器相關人員儀器負責人王素蘭教授 (03)5735131-35612 slwang@.tw 儀器管理員張育慈 (03)5735131-35612 Berylchang26@ 三、儀器管理須知本儀器之管理與使用依「國立清華大學化學系公用儀器設備管理辦法」委託操作上網預約將送交四、儀器使用須知可偵測元素範圍：可從鋁至鈾元素(Si,Zr,Nb,Mo,Tc除外) 使用樣品量需視樣品中待測元素濃度而定；最低可測到ng等級五、收費標準 /件校內：500/件 (以上費用均不包括樣品槽費用400元) 以上所定收費標準，是以正常樣品處理過程為準，對需要繁複處理之樣品，收費另計。