THM-NQR-08001-A04 （C，CFC）超声波探伤检验规程.doc

超声波检验操作规程 1适用范围 本规程适用于。2编制依据 3人员要求 ）4检验条件 a）在射线探伤后进行。 b）扫查面应进行相应的清理与清洗以去除任何影响声波穿透性和探头移动的杂物，例如油污，氧化皮等扫查面粗糙度.5μm。5检验设备 a）所用设备为脉冲反射式探伤仪，适用频率范围为1—MHz，设备满足NF EN12668-1要求 。 b）仪器的经过校准的增益器（衰减器）应在可用的灵敏度余量dB范围内具有2dBdB。 c）仪器应在显示屏可用显示范围的80%以内具有%的垂直线性度误差。 d）仪器应在显示屏水平时基线显示范围以内具有%的线性度误差%以内。 在上述过程中探头与耦合面压力尽量保持恒定。 e）a））仪器的参数应由探伤员进行相关的检验。 6探头 以下两种类型的探头可被使用 6.1 直探头 纵波直探头。 6.2 斜探头 7耦合剂 耦合剂应使用水或油或甘油或浆糊（纤维素剂）并且在探伤完毕后立即清洗掉。 8参考试块 应使用与待检直管具有相同热处理工艺的同种材质制取对比试块。 。 试块的具体要求见9探伤灵敏度a）b）灵敏度的应在每次探伤开始前，其校验应在探伤开始后的第一个小时结束时，以后每隔两小时校验一次，探伤结束时校验一次，在探伤过程中若怀疑灵敏度有漂移也可进行校验。 c）灵敏度在高度方向上的误差应在2dB以内，否则就要重新调节灵敏度，并且最近一次校验到发现漂移期间的探伤操作要重新进行。 10检验实施10.1检验范围10.2扫查速度 扫查速度应小于100mm/s 。 11回波显示评定 11.1 背景噪声 背景噪声是指大量位于屏幕下方相互接在一起的回波，背景噪声以其中的最大波幅高度占DAC曲线高度的百分数来表示。11.2 记录水平 对于可测量尺寸的缺陷，波高高于φ3平底孔的显示，才需要记录； 对于不可测量尺寸的缺陷，波高高于φ4平底孔的显示，才需要记录； 底波高度下降12dB区域才需要记录。 对于缺陷区域边界的确定采用6dB法，即缺陷波高降低到最高值的一半（低6dB）处做为缺陷的边界处，或底波下降量仅为最大下降量的一半（高6dB）处做为边界。 12评定标准13记录 超声探伤结果应形成检测报告，当出现不合格时应填写《不符合项报告》，说明缺陷的显示特征（波幅、深度、大小），并以附图形式标明缺陷位置。 1录 THM/NQR-08001-A04-R01超声波检报告附录2 EN 12680-1：2003（E） 表1- 不连续性体积验收范围 特征 单位 位置（见图2） 等级 1 2 3 4 5 被检处铸件壁厚 mm - ≤50 ＞50 ≤100 ＞100 ≤600 ≤50 ＞50 ≤100 ＞100 ≤600 ≤50 ＞50 ≤100 ＞100 ≤600 ≤50 ＞50 ≤100 ＞100 ≤600 无可测量尺寸的反射体 平底孔最大等量 mm 边缘 3 a 不作为标准 中心 100mm×100mm内记录的不连续性数量 - 边缘 3b 3 5 6 6 不作为标准 中心 不作为标准 可测量尺寸的反射体 平底孔最大当量 mm 边缘 3 a 不作为标准 中心 不允许 区域厚度的15% 区域厚度的20% 沿壁厚方向不连续性最大尺寸 - 边缘 壁厚的15% 壁厚的20% 中心 75 75 75 75 75 75 75 75 75 75 75 75 无可测量宽度的最大长度 mm 边缘 75 75 100 75 75 120 100 100 150 100 100 150 中心 600 1000 1000 600 2000 2000 2000 2000 2000 3000 4000 4000 单个最大面积c，d mm2 边缘 10000 10000 15000 15000 20000 20000 15000 15000 20000 20000 30000 40000 中心 10000 10000 10000 10000 10000 10000 10000 15000 15000 15000 20000 20000 参考面积最大总面积c mm2 边缘 10000 15000 15000 15000 20000 20000 15000 20000 20000 30000 40000 40000 中心 参考面积 mm2 - 150000≈390mm×390mm 100000≈320mm×320mm a 壁厚小于50mm，平底孔直径大于8mm的为不可接受。 壁厚大于50mm，边缘区域平底孔直径超过8mm的须经过生产商与买方的协商确认是否可接受。 b 中心区域与边缘区域的重叠 c 小于25mm单个指示应为一个不连续性