EI-35 A.0 测试程序与治具管理程序.docVIP

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EI-35 A.0 测试程序与治具管理程序.doc

文件编号:EI-35 版本: A 文件名称: 测试程式与治具管理程序 编订日期: 2007 年 06 月 28 日 修订日期: 2007 年 06 月 28 日 编订部门: DT ENG 制订: 审核: 核准: 文 件 修 订 履 历 版次 页 数 修 订 内 容 日 期 修订者 A.0 5 INITIAL 06/28/2007 黄厚旺 目的: 为确保产品生命周期中,生产过程测试与生产作业的正确性及有效性,避免因测试程式的使用版本或治具不良所产生之误差,造成产品品质鉴定失效,影响产品品质不良与重工。 范围: 测试程式/治具管理程序范围包含生产线各量产机种测试程式及测试治具. 权责: RD:RD负责提供测试规格供MEE撰写测试程式与TE制作测试治具,并确认与协助解决测试所发生之问题。 TE负责治具之提出申请及确认治具之符合性。 MEE负责撰写测试程式及管制测试程式版本,并即时解决测试中所发生的问题。 生产部:负责使用、保管与维护程式与治具,并反应及送修不良治具。生产过程中记录测试值。标准样品(Golden Sample)异常时立即反应TE/PE处理。 IPQC:负责确认、稽核测试程式与治具,以及生产线使用状况。 名词解释: TE:TEST ENGINEER 测试工程单位/工程师。 IPQC:IN PROCESS QUALITY CONCTROL 品管单位. MEE:MANUFACTURE ELECTRICAL ENGINEER 制造电子工程师。 RD:研发工程单位/工程师。 测试程式:包括ICT、INITIAL、Fin-ATE等所有测试站使用之测试程式。 测试治具:指生产及测试作业所使用的工具。包括ICT、INITIAL、HI-POT、Fin-ATE等所有测试站使用之生产治具。 参考文件: 新产品导入管制程序。 制程管制程序。 制程检验管制程序。 产品终止管理程序 流程图: 无. 流程管制作业: 7.1 测试程式撰写 7.1.1 新机种导入生产线量产之前, RD 和NPI MEE移交机种相关测试规格与资料。 7.1.2 量产时,由机种负责人依测试规格,撰写测试程式。 7.1.3 测试程式撰写后,经MEE和TE人员进行调试OK,经MEE 课长依规格书和MTR签字确认后由部门主管核准发行方可生效,生效后的程序由TE工程师COPY到网络电脑K盘上。 7.2 测试程式的修改 7.2.1 如有测试条件变更,相关MEE需及时会签【测试程式变更申请表】。交课长经理签字审核后,通知TE课长或授权人员覆盖到网络上相应的程式上,然后将变更申请表归档。 7.2.2 经修正之测试程式,MEE仍需按7.1.3之程序办理,而旧版本之测试程式须于新版本移交时同时注销。 测试程式的备份/防改写/废止 7.3.1 生产线的所有测试站电脑均在C盘建立一个子目录以备份程式。 7.3.2 每条线在相同的测试站程式通过联网保証一样。 7.3.3 测试员测试必须调K盘程式.须依最新版本程式执行测试作业。 7.3.4 非TE人员同意,测试员不得用C盘程式,测试过程中,其他(非TE)人员不得更改程式。 7.3.5 当机种停止生产时,测试程式将保存两年的时间,两年后如此机种不再生产时将自动废止。 7.3.6 品管人员须不定期稽核测试程式版本之正确性,以确保产品品质。 7.4 治具制作 7.4.1 新机种治具制作:新机种开始于导入生产线量产前,应召开产前会议协调须移交之测试规格与治具需用材料等相关资料(即各机种SPEC、资料),以供IE/TE工程师制作治具。 7.4.2 依据生产排程责任单位填写请购单经课长,经理,使用单位签字后由采购给制作厂商P/O。 7.4.3 厂商制作治具完成后,治具工程师验收治具确认外形结构要美观,操作简单,维修方便的功能治具,须符合生产或测试要求。 7.4.4 TE治具工程师对厂商所加工的治具支架确认OK后,将零部件安装,配线组装成成品。 7.4.5 测试治具制作完成时,须配合测试程式由TE工程师确认无误后,贴上【治具合格标签】移交制造部小资材进行保管【参考小资材管制作业标准MI-04】。 7.4.6 对新增测一治具和ATE治具作上线前点检,电压误差不能超过20mV,治具人员做点检记录表(附件一)。 7.4.7 产能增加时之治具制作:TE得因应产能增

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