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这是测量探针按钮。 单击测量探针图标。拖出一个小灰点，且鼠标箭头变成灰色的测量探针图标样。 将其拖放至被测支路上后，单击左键。 测量探针变为一绿色箭头，同时出现一淡黄色测试数据显示框。 打开电源开关，显示框中即显示出探针放置支路的测量数据，自上而下依此为：瞬时电压V、峰峰值电压V(p-p)、有效值电压V(rms)、直流电电压V(dc)、瞬时电流I、峰峰值电流I(p-p)、有效值电流I(rms)、直流电流I(dc)、频率Freq。 右键单击绿色箭头或淡黄色数据显示框，可打开处置对话框，进行剪切、复制、删除等操作。 Probe Properties对话框，对探针属性进行设置。 左键双击绿色箭头或淡黄色数据显示框，可打开 拖出一个小灰点，且鼠标箭头变成灰色的测量探针图标样。 将其拖放至被测支路上后，单击左键。 测量探针变为一绿色箭头，同时出现一淡黄色测试数据显示框。 打开电源开关，显示框中即显示出探针放置支路的测量数据，自上而下依此为：瞬时电压V、峰峰值电压V(p-p)、有效值电压V(rms)、直流电电压V(dc)、瞬时电流I、峰峰值电流I(p-p)、有效值电流I(rms)、直流电流I(dc)、频率Freq。 右键单击绿色箭头或淡黄色数据显示框，可打开处置对话框，进行剪切、复制、删除等操作。 * Multisim 电路设计及仿真应用 第4讲 仪器仪表的使用 3.11 IV特性测试仪 IV分析仪（IV Analyzer）是测试半导体器件特性曲线的仪器，等同于现实的晶体管特性曲线测试仪。 IV分析仪的图标上有3个端子。在选择了器件类型后，面板接线端口会出现相应的连接提示，按提示连接即可。 这是IV分析仪按钮。 这是IV分析仪图标及打开的IV分析仪面板。 3.11.1 面板显示及设置 IV特性测试仪面板 显示屏幕 测试读数窗口 指针移动按钮 接线端 选择器件类型 设定电流范围 对数坐标 设定电压范围 线性坐标 F为终止值 I为起始值 仿真参数设定按钮 反转背景按钮 参数设置对话框 VCE设定 起始值 终止值 增量 VPN设定 起始值 终止值 增量 VDS设定 起始值 终止值 增量 VGS设定 起始值 终止值 步进值 确认按钮 IB设定 起始值 终止值 步进值 取消按钮 提取IV特性测试仪图标并双击，将其面板打开。 3.11.2 IV特性测试仪使用举例1 提取一只二极管，按照面板上的提示与IV特性测试仪图标端子连接。 打开仿真开关，屏幕显示默认设置的二极管特性曲线。 3.11.3 IV特性测试仪使用举例2 点击Components区右边的黑箭头，打开下拉菜单，选择BJT NPN。右下角出现NPN三极管的连接提示。 提取NPN三极管2SC1815，按连接提示与IV特性测试仪图标输入端连接。 打开运行开关启动仿真。2SC1815的特性曲线即显示在屏幕上 。 3.11.4 IV特性测试仪使用举例3 用鼠标左键按住显示屏左边纵轴上端的绿色小三角，向右拖出。屏幕下边最左一格显示基极电流的第1条曲线,中间一格显示读数指针的坐标，右边一格显示基极电流的第1条曲线与读数指针交点的纵坐标。 继续向右拖，左边一格显示不变，中间一格和右边一格显示数据则不断变化。 用鼠标单击下数第2条曲线。左边一格显示变为I-b(2m)，中间一格不变，右边变为117.903mA。 再单击第3条曲线。左边一格显示变为I-b(3m)，中间一格不变，右边变为153.743mA。照此办理，即可特性曲线每一点的读数。 移动读数指针除用鼠标拖动外，还可以用鼠标单击屏幕下边两端的箭头按钮。比直接拖动更精准。 右键单击读数指针，可打开操作菜单。执行相关命令，既可以输入X坐标，也可以按Y坐标求相关数据，还可以求特定曲线。 单击Sim-Param按钮，打开Simulate Parameters对话框。设定Vce的起始电压和终止电压以及Ib的起始电流和终止电流。 既可以观察晶体管高电压、大电流特性。 也可以了解低压、小电流特性或其他局部细节。 3.12 失真分析仪 失真分析仪（Distortion Analyzer）是一种测试电路总谐波失真与信噪比的仪器，经常用于测量存在较小失真度的低频信号。 失真分析仪的图标仅有一个接线端，使用时与电路输出端连接。 这是失真分析仪按钮。 这是失真分析仪图标及打开的失真分析仪面板。 3.12.1 面板显示及设置 失真分析仪面板 总谐波失真值显示屏 开始测试按钮 停止测试按钮 总谐波失真按钮 测试信噪比按钮 设置基频 设置失真分析的频率分辨率 %、dB选择按钮 测试标准选择按钮 标准选择对话框 电器与电子工程师协会标准 选取谐波次数 选择傅里叶变换点 确认按钮 美国国家标准/国际电工