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第二章 半导体三极管及放大电路基础
2.2 场效应管
2.2 场效应管
一、MOS场效应晶体管
二、结型场效晶体管
三、场效晶体管的主要参数
第二章 半导体三极管及放大电路基础
一、MOS场效应晶体管
(IGFET )
(一)N 沟道增强型MOS场效应晶体管
1. 结构与符号
S G D
D
N+ N+ S — 源极Source
在硅片表面生一
在绝缘层上喷金
用金属铝引出
用扩散的方法
耗尽层 P 型衬底 G — 栅极Gate B
层薄SiO 绝缘层
属铝引出栅极G
源极S 和漏极D
制作两个N 区
(掺杂浓度低) 2 G
D — 漏极Drain
S
B
第二章 半导体三极管及放大电路基础
2. 工作原理
反型层
(沟道)
(1)uGS 对iD 的控制作用
a. 当 uGS = 0 ,D 、S 间为两个背对背的PN 结;
b. 当0 uGS UT (开启电压)时,G、B 间的垂直电
场吸引P 区中电子形成离子区(耗尽层);
c. 当uGS UT 时,衬底中电子被吸引到表面,形
成导电沟道。uGS 越大沟道越厚。
第二章 半导体三极管及放大电路基础
(2) u 对i 的影响(u U )
DS D GS T
D 、S 间的电位差
使沟道呈楔形,
u ,靠近漏极端的
DS
沟道厚度变薄。
预夹断(U = U ) :漏极附近反型层消失。
GD T
预夹断发生之前:uDS iD。
预夹断发生之后:uDS iD 不变。
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