X射线分析方法进展 _只读_.pdfVIP

X射线分析技术概论 引言 X射线分析技术的应用范围非常广泛，现 已渗透到材料、物理、化学、地质、生命科 学以及各种工程技术中，成为一种重要的实 验手段和分析方法。近些年，X射线分析方 法有较大发展。 随着机械及微电子技术的发展，仪器设备 的不断改进，检测精度及可靠性逐渐提高， 尤其是同步辐射光源的出现以及计算机技术 的引入，构成了近代X射线分析技术。 广义的X射线分析技术至少包括： X射线衍射与散射(XRD) X射线吸收精细结构(XAFS) X射线荧光即波谱分析(XRF) X射线光电子能谱(XPS) 这里，仅对X 射线衍射方面的技术发展概 况，进行简要的介绍。 一、发展简史 二、应用概况 三、未来发展动向 四、我国科学家的贡献 五、几点应用要领 一、发展简史 (1)基础理论 德国物理学家伦琴于1895年偶然发现了一种 不可见的辐射线，称之为X射线。 第一张X射线成象 照片 1895年11月8 日 （星期五），伦 琴给他妻子 Bertha拍的左手 透视片，手上戴 有戒指 1896年2月8 日，X射线在美国首次用 于临床诊断 1912年劳厄等发现X射线衍射现象，证实X射 线的电磁波本质及晶体原子的周期排列。 随后，布拉格进行了深入研究，认为各衍射 斑点是由晶体不同晶面反射所造成的，导出了 著名的布拉格定律。 以劳厄方程和布拉格定律为代表的X射线 晶体衍射几何理论，不考虑X射线在晶体中 多重衍射与衍射束之间以及衍射束与入射束 之间的干涉作用，称为X射线运动学理论。 厄瓦尔德1913年提出倒易点阵的概念，并 建立X 射线衍射的反射球构造方法，对解释 各种衍射现象起到极为有益的作用。 需要说明，晶体不完整性将造成布喇格反 射强度减弱及漫散射现象，使布喇格反射宽 化及强度弥漫起伏。 1913年Darwin发现实际晶体反射强度远高于 理想完整晶体应有的反射强度。根据多重衍射 原理及透射束与衍射束之间能量传递关系，开 创了X射线衍射动力学理论。 上世纪二十年代，康普顿等发现了X射线非 相干散射现象，称为康普顿散射。 Guinier和Hosemann 于1939年分别发展了X 射线小角度散射理论，它只和分散在另一均匀 物质中尺度为几十到几百个埃的散射中心之形 状、大和分布状态有关。 Kato和Lang 于1959年发现了X射线干涉现 象，发展了X射线波的干涉理论，可精确测 定X射线波长、折射率、结构因数、消光距 离及晶体点阵参数。 上世纪六十年代，研究射线透过材料后发 现 ，在吸收限波长高能量侧30—1000eV范 围内强度起伏即X射线吸收系数振荡，称为 扩展X射线吸收限精细结构简称EXAFS 。 近三十年内，在X射线分析的基础理论研 究方面，没有重大突破。 (2)实验设备 1913年Coolidge制成封闭式热阴极管，是X射 线管方面的一大革新。 上世纪四十年代末Taylor等人研制出旋转阳极 即转靶装置，大大增加输出功率。 上世纪五十年代Ehrenberg与Spear制成细聚焦 X射线管，其焦斑直径可降至50 μm或更小，提 高了比功率，改善了衍射分辨率。 随后，出现脉冲X射线发生器以产生X射线脉 冲，每个脉冲持续时间为亚毫微秒量级，从而 具有特定的时间结构。 上世纪七十年代以来最有前途的射线源即同 步辐射源，具有通量大、亮度高、频谱宽、连 续可调、准直性好、具有特定时间结构、偏振 性好、光谱纯洁波等。 最早利用电离室直接探测X射线，随后则普遍 采用照相底片，照相法目前仍在应用。 廿年代末期Geiger与Müller制成改进型盖革计 数器，此后发展了正比计数器和闪烁计数器。 目前新型探测器包括：固体探测器、位敏探 测器及超能探测器。 (3)分析方法 劳厄法：是劳厄等人在1912年首先创用的方 法，当时是利用固定的单晶试样和准直多色X射 线束进行实验。 周转晶体法：1913年首先应用，利用旋转或 回摆单晶试样和准直单色X射线束进行实验。 德拜谢乐法：1916年德拜及谢乐等利用此方 法及准直单色X射线，对粉末或多晶块状试样进 行实验。 衍射仪法：1928年Geiger与Miiller首先应用盖 革计数器制成衍射仪。现代衍射仪则是在上世 纪四十年代中期Friedman 设计基础上发展起来 的，目前