光电探测器前级放大电路设计与研究.pdfVIP

光电探测器前级放大电路设计与研究* 陈张玮，李玉和，李庆祥，王 亮，段瑞玲 (清华大学精密仪器与机械学系，北京 100084) 摘要:深亚微米近场飞行头飞行高度测试是近场光存储的关键技术之一。为了能精确 测试近场飞高变化，检测系统需要具有很高灵敏度和分辨力， 而前级放大电路设计是检 测系统设计关键。本文对光电探测器前级放大电路设计、讨论，并进行了实验分析;提出 了实用化的电路设计形式以及注意事项。 关键词:前级放大;微电流;光电探测器;飞高测试;近场光存储 中图分类号二TP311.53 文献标识码:B 文章编号:1001-1390(2005)06-0032-03 TheDesignandResearchofPrimeAmplificationCircuit forPhoto-DetectionSystem CHENZhang-wei,LIYu-he,LIQing-xiang,WANGLiang,DUANRui-ling (DepartmentofPrecisionInstrumentsandMechanology,TsinghuaUniversity, Beijing 100084，China) Abstract:UltraSub-microFly-Heightmeasurementplaysanimportantroleintechnology ofNear-fieldlightStorage.InordertomakeaprecisemeasurementoftheFly-Height, thedetectionsystemshouldhaveveryhighsensitivityandresolution.Primeamplification circuitdesignisthekeyofaPhoto-Detectionsystem.Ourdiscussionfocusesondesign andexperimentofprimeamplificatiorrcircuit.Wealsoindicatethematters,whichneed attentionforpracticeandapplication. Keywords:primeamplification;feeblecurrent;Fly-Heighttest;Near-Fieldlightstorage 0 引 言 检测系统前级放大器的设计对整个系统性能起 近场光存储技术是现代高密度数据存储领域的 决定性作用。在微弱信号探测研究中不仅要进行后级 一个热点。实际应用中，为了提高头盘界面近场藕合 放大和滤波环节的设计与改善，而且前级信号的精确 效率，近场光存储技术必须保证固体浸没透镜(Solid 设计也非常重要。因为在后级电路中，常常有上百倍 Immersionlens-SIL)和存储介质间距应远小于波长。 甚至千倍的放大设计，在放大信号的同时，也放大了 为了解决深亚微米数量级的近场间距的测控，其核心 噪声。 是借助光学测量方法设计高质量的动态测量系统。 光电探测器的前级放大设计通常从两方面着手: 对于深亚微米近场测试，SIL透镜与光盘的间距 一是选择合适的器件;二是设计合适的电路形式。本 变化在纳米级别，光学测量方法能得到的光强变化极 文针对光电二极管，对于微弱信号(特别是微电流)前 其微弱。为了能精确测试微小间距变化，不仅要求设 级放大电路设计进行实验分析和讨论。 计合理的光学测量方案，而且要求检测系统具有很高 1 电路设计 的灵敏度和分辨力。光电探测系统的任务就是需要将 光电二极管D在光通量中下，产生的光生电流 非常微弱信号，特别是将淹没在噪声中的微弱信号提