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第9章电子仪器的发展趋势和自动测试系统
9.1 概述
9.2 智能仪器
9.3 自动测试系统简介
9.1 概述
与计算机技术紧密结合实现自动化测量的电子设
备主要分为两大类:
• 一是带微处理器的所谓智能仪器。
• 一是自动测试系统,它是由可程控仪器经通用接
口与计算机连接成系统,测试工作由计算机控制
按照预先编制的程序自动进行。
9.2 智能仪器
9.2.1智能仪器及其发展
所谓“智能”,即人工智能。而所谓智能仪器,顾
名思义,是指仪器具有一定的人工智能,即仪器
可以代替一部分人的脑力劳动。
目前的智能仪器常常是指以微处理器为中心而设计
的仪器。微处理器(Microprocessor),简称µP,
是微电子技术发展的产物,是用大规模集成电路工
艺实现的可编程逻辑控制器或微程序控制器。
微处理器应用于电子测量仪器之后,使传统的电
子测量仪器发生了巨大变化,智能仪器与传统的
测量仪器相比有着本质的区别。它可以存储、计
算、处理数据,具有记忆、控制和逻辑判断功
能,测量精度大大提高,甚至在某些方面引起了
测量原理的变革。
9.2.2智能仪器的特点
1.测量的自动化
由于微处理器的应用,可以通过预先编制好的程
序进行自动测量。
2 .一机多用
在智能仪器中,利用微处理器的可编程能力和运
算能力,可实现一机多用,扩展仪器的功能,提
高其性能价格比。
3.输入输出多样化
智能仪器可以针对具体情况以不同方式输入数
据,以不同方式输出测量结果。
4 .精度高
由于微处理器具有很强的运算和数据处理功能,
在智能仪器中可以充分利用这一特点来消除测量
误差,提高测量精度。
5.简化电路结构、降低对硬件的要求
在智能仪器中,可以通过软件代替硬件或降低对
硬件的要求,这样不仅可以简化仪器的结构,而
且可以提高仪器的可靠性,降低仪器的成本。
6.操作简单,维修方便
由于智能仪器自动化程度较高,需要人工控制的
工作减少,仪器在使用时非常简单,可以使用非
熟练人员,甚至非技术人员操作。
9.2.3 智能仪器的基本结构
如图9-1所示,是智能仪器的组成示意图。它主要
包括微计算机(专用的),测试功能或信号发生
器、通用接口母线三部分。
仪器中的键盘控制和显示输出部分,可以
看成微机系统的组成部分。
在智能仪器中,基本上用键盘操作代替了
传统仪器面板上的开关和旋钮。
智能仪器的显示和输出部分,也受微型计
算机控制。
首先,智能仪器中微计算机处理的是数字信号,
由智能仪器和标准接口母线组成的自动测试系统
也是数字系统。智能仪器中计算机向测试功能发
送的信号和后者发送回计算机的信号最终都要变
成数字信号。因而智能仪器中要增加一些A/D和
D/A转换电路,使仪器中的各部分都能在微计算
机统一指挥下工作。
9.3 自动测试系统简介
9.3.1 自动测试系统的基本根念
通常把在最少人工参与的情况下,能自动进行测
量、数据处理并以一定方式显示或输出测试结果
的系统称为自动测试系统(Automatic Test
System。缩写为ATS )。
自动测试系统包括以下五部分:
1.控制器 主要是计算机。如小型机、PC机、微处
理机、单片机等,它是系统的指挥控制中心。
2 .程控仪器、设备 包括各种程控仪器、程控开
关、执行无件、程控伺服系统,以及显示、打
印、存储记录等器件,能完成确定的测试、控制
任务。
3.总线与接口电路 它们是连接控制器与各程控仪
器、设备的通道,完成数据的传输与交换。
4 .测试软件 为了完成系统测试任务而编制的各种
应用软件。例如,测试主程序、驱动程序、I/O软
件等。
5.被测对象 测试任务的不同,被测对象千差万
别。由操作人员采用非标准方式通过电缆,接插
件、开关等与程控仪器和设备相连。
9.3.2 自动测试系统的发展趋势
自动测试系统的发展大体经历了三个阶段:
1.第一代总装阶段
主要用于大量重复性测试、非常快速的测试、较复
杂的必须要高度熟练技术人员的测试和对工作人
员健康有害或操作人员难于接近测试现场的情
况。
常见的第一代自动测试系统主要有自动数据采集系
统,自动分析系统等等
2 .第二代接口标准化阶段
用标准化的接口母线(Interf
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