TiAl-W-Si合金中的偏析和析出相的分析电子显微术研究.pdfVIP

第38卷 增刊 金属孝坂 V61．38Suppl． 2002年9月444—448页 ACTAMETALLURGICASINICA Sept．2002PP．444～448 TiAl一W—Si合金中的偏析与析出相的 分析电子显微术研究 于荣·) 贺连龙-) 程志英z) 朱静。) 叶恒强-) 1)中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室，沈阳110016 2)清华大学材料科学与工程研究所电子显微学实验室，北京100084 摘 要 用高空间分辨分析电子显微术研究了TiAl—W—si合金中B2相的析出行为和元素w的分布．结果表明，a2／7相 界面台阶由于W的富集而成为B2析出相的择尤形核位置．B2相中，高达三分之一的Al原子被W原子置换，而在1相中 显著作用． 关键词分析电子显微术，Ti 出相，偏析 中图法分类号TGl46．23 文献标识码A 笛 INVESTIGATIoNSoFSEGREGATIoNAND TA