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《数字半导体测试基础》学习报告 开路和短路测试(Opens and Shorts Test) 1目的:验证所有的信号引脚是否都接触良好以及信号引脚与信号引脚或者power/ground pin之间有无短路. 2原理:device的每个引脚上都有一对保护二极管,在测试过程中观察保护二极管是否起到钳制电位的作用,来判断引脚的好坏. 3方法:串行/静态法和功能测试法 串行/静态法(Open and Shorts Serial Static Method) 所有device pins包括power和ground pins都接地. 用PMU连接单个引脚,灌入一定值电流(100uA-500uA,接VDD二极管导通),测电压. 如果测得电压在二极管导通电压(0.2-1.5v)范围内,则pass,该pin为良. 如果测得电压大于保护二极管导通电压(1.5v),则fail,该pin断路. 如果测得电压0.2v,则fail.该pin短路. 或者, 用PMU连接单个引脚,拉出一定值电流(接地二极管导通),测电压. 情况与上面相似. 如果测得电压在二极管导通电压(-0.2--1.5v)范围内,则pass,该pin为良. 如果测得电压大于保护二极管导通电压(-1.5v),则fail,该pin断路. 如果测得电压-0.2v,则fail.该pin短路. 重复以上步骤,直到每个signal pin都被测好,一般我们使用拉出电流的方法(即接地二极管电流) 功能测试法(Open and Shorts Functional Method) VDD和ground 接地 用Drive驱动每个信号引脚至0v. 断开一个pin的Drive,用动态负载灌入一定值电流,由comparator判断pin输出电压,确定是否符合要求(Z态) 测完这个pin就恢复这个pin的驱动,然后重复以上步骤测试下一个pin. 两种方法的比较 串行/静态法:结果清晰,但耗时 功能测试法:速度快,但是结果不好分析 可以先用功能测试法测,如果出现错误,则用串行/静态法测试分析具体情况individually