采用多维相似性的测试压缩.pdfVIP

采用多维相似性的测试压缩 雷绍充，梁峰，张路文，王震，刘泽叶 （西安交通大学电子与信息工程学院，西安，710049） 摘要：未来的纳米电路测试需要更先进的测试压缩技术，本 测试数据量是影响测试时间和测试成本的关键 文探讨一种采用多维相似性测试图形的压缩方法。先提出两 因素。按照国际半导体技术行动蓝图 ITRS 个种子向量的多维线性解压方法，以构成多维相似性测试图 （ International Technology Roadmap for 形；再研究多维相似性测试图形序列的约束条件，以构成最 [1] Semiconductors ）的分析 ，2014 年以后晶体管的测 大长度序列；然后研究种子向量的压缩方法，以进一步提高 测试压缩率；最后通过实验验证多维相似性测试图形的高压 试成本要大于其制造成本，压缩是一种有效的解决 [2-1.3] 缩率与低测试功耗的特征。对五个最大的 ISCAS’89 电路实 方法，一直是国内外学术界研究的热点 ，也是工 验结果表明，本文方法的压缩率都在80 倍以上。 业界迫切需要解决的问题。 关键词：测试图形；压缩；低功耗 常用的测试压缩方法一类是基于编码方法的， 中图分类号：TN407；TP391.7 [3] [4] 如Golomb 编码 及Huffman 编码 等，第二类压缩 结构是由异或门、触发器和连接线构成的线性解压 Test Compression Utilizing [5] 器 ；第三类方法是把相同的测试逻辑值 “广播”到 Multi-dimension Similarity Test [6] 多条扫描链，典型结构为广播扫描 与 Illinois Patterns [7] 扫描 。这些方法的共同特点是对生成的测试图形 LEI Shaochong, LIANG Feng, ZHANG Luwen, WANG Zhen, 中不相关位进行压缩，可把测试数据压缩几十倍甚 LIU Zeye 至几百倍。我国学者也在测试压缩与低功耗方面取 (School of Electronics and Information, Xi‟an Jiaotong [9]