第07章brady.pptVIP

2．间接电加热稳态卡计法 与补偿电加热稳态法有相同的部分： 真空系统：真空度不低于1.33×10-3pa 真空室：外钟罩真空密封，内钟罩热沉降温 优点：结构简单，放置试样方便，操作简便。 缺点：如下图所示，要把加热电阻丝镶嵌在被测试样中间，因此这种方法的试样制作比较复杂和困难。 间接电加热法的试样剖面图 Hameury制作了测试温度：-20℃～200℃的测量装置。 Hameury 等人设计的测量装置结构示意图 测量装置采用热板法 (热导率测量方法）原理，制作了一个可将热损 降低到最小的加热和护热装置来对试样进行加热。 相当于把一个完备的尺寸较小的典型护热板法热导率测量装置放置在真空黑体腔内进行半球向全发射率测量。 杜瓦瓶:储藏液态气体，低温研究和晶体元件保护的一种较理想容器和工具。 工作原理： 在空间环境下，绝热材料的热特征主要体现在两个性能参数上：（1）涂层的半球向全发射率（总辐射能与同T下黑体辐射能之比） （2）绝热材料的热导率 如果知道其中一个参数，另一个参数就可以计算获得。 Varenne 等人根据这一原理对空间用绝热材料以及具有较高发射率涂层的热性能测试评价进行了研究，设计并研制了相应的测试系统 Varemme测试系统与工作原理 Varenne 等人设计的测试系统结构示意图 该测试系统中试样装置是由圆柱形绝热材料试样(Φ50×10)mm 和涂层材料(Φ52.5mm)堆积构成，并且采用两个分离的单元以便于进行相应测量和参数估计计算，其中一个单元是已知光学参数的涂层材料，以此来比较几种绝热材料的热传导性能; 另一个单元为已知热导率的绝热材料，以此来估算出不同涂层材料的半球向全发射率参数。 Varemme测试系统与工作原理 Varenne 等人还对反射屏进行了数值模拟以实现高效热屏，如反射屏内壁具有高反射率而且发射屏的内经可以根据相应的热导率进行调节，尽管不能完全消除辐射热损，但由此可以大幅度的降低。 Varenne等人提出的这种测试方法具有很高的测量准确度，但冷却时间总是长于加热时间，一般需要几乎一天的时间才能达到第一个试验点需要的条件，然后经过8h 后才能进行后续温度点的测量。 试样背面温度为恒定，可以设定在243K～300K间任一温度 Varenne 等人设计的测试系统结构示意图 通过前表面涂层发射出去的热量将取决于涂层的温度和发射率，并取决于测试试样安装的几何形貌。由于绝热材料试样的四周存在辐射热损会影响试样上的一维热流模型，因此特别设计了反射屏，以起到护热板的作用。 系统包括：样品更换装置(1)，真空系统(2)，外腔体(3)，内腔体(4)，  电源(5)，热电偶测量系统(6)，样品单元(7)。 实验装置示意图 样品结构图 中国科学院上海硅酸盐研究所的实验装置 测量样品： 聚酰亚胺镀金薄膜(Au film ), KS-Z涂层( KS-Z coating), 铈玻璃二次表面反射镜( OSR )和一种新型热致变色材料， 其总的误差小于2%。 3．直接通电加热稳态卡计法 Worthing 稳态测量装置图 Worthing 于 1941 年就提出了测量全波长半球发射率最为简便的稳态量热法——灯丝加热法。Richmond（1960）、Howl（1962）及Cezairliyan（1970）等也采用了类似方法。 将样品加工成薄壁圆管夹在电极两端通电加热, 框室壁通以冷却水并绝缘密封, 内壁系涂黑表面, 使其吸收率近似于1.0。在样品中部对称位置上紧固着两个导电环M、N作为测量电压的接点。框室内抽真空使框室内壁与样品之间只有辐射热交换。试件中部温度由温差电偶测量, 框室内壁保持恒温T0。 3．直接通电加热稳态卡计法 Worthing 稳态测量装置图 该方法只能测试全波长半球发射率，样品制作麻烦、测试时间长等缺点，但由于装置简单、测试温度范围较宽、准确度高等优点仍得到广泛使用。 测试温度范围：-50℃~1000℃ 测量精度： 2% 在热平衡条件下, 可以解出样品外壁沿管长的温度分布为抛物线形状。因M、N间消耗的电功率全部用以补充辐射损失及沿管长的热传导损失, 可得样品全波长半球发射率。 3．直接通电加热稳态卡计法 ASTM C835－06 测试系统结构示意图 美国橡树岭国家实验室Wilkes等人参考ASTM C835对用于超级真空绝热材料构件的带状不锈钢半球向全发射率进行了测量。 最高测试温度：1300K。 直接通电加热稳态卡计法的主要特点是可以实现高温下半球向全发射率测量，因而应用十分广泛，并有相应的标准测试方法，如ASTM