数模混合电路的BIST的研究.pdfVIP

数模混合电路的BIST研究 雷加，周虎 (桂林电子科技大学，广西桂林) 摘要：数模混合电路的测试是现在集成电路设计特别是SOC面对的重要课题，BIST(内建自测试) 不仅能减少测试和验证的时间，而且提高了故障覆盖率．本文对国内外已提出的数模混合电路的BIST进 行了有效的探讨，归纳总结，总结了他们各自的结构特点．并提出了一种基于功能测试的数模混合电路 BIST结构． 关键词：数模混合电路；伪随机测试BIST；LSFR 1引言 随着微电子技术和集成电路的飞速发展，芯片的集成度越来越高，电路由单一的数字 电路或模拟电路逐步向一定功能的数模混合电路系统方向发展，那就需要更快，精度更高， 更为复杂的测试仪器设备米测试，而这些仪器设备又很昂贵．一种可行的方法就是把部分或 全部测试功能集成到集成电路内部，也就是BIST(内建自测试)，它可以大大的降低对测 试仪器的依赖，并且还有利于故障的诊断定位。 对数字电路的BIST研究较为成熟，提出了好几种数字BIST的测试方法，有些甚至已 经成功的运用于商业生产中．而模拟或数模混合电路BIST的研究相对较晚，只是在最近几 年才成为研究的重点。本文在第三部分总结了儿种数摸混合电路BIST结构，并提出了基 于功能测试的数摸混合电路BIST结构。 2 BIST基本原理 内置自测试方法的基本思想是进行芯片的设计时，就在芯片内部集成测试电路，在制 造芯片的电路时必须加入一些额外的白检测试电路，在芯片的测试阶段。通过发出一个特 殊的输入信号或是输入组合来激活芯片内的自检测试电路，然后这个被激活的电路就开始 在芯片上运行一系列的测试，然后将测试的结果与所希望的结果进行比较，并输出测试结 果．这样芯片就完成了对自己的测试．BIST方法通过内建测试的硬件和软件共同完成，其系 统硬件主要由数据处理器，控制器和存储器组成。在系统测试模式下，通过运行系统测试 软件，将系统切换到测试模式，硬件功能重新分配，完成测试操作。 这样做的优点是这种测试方法简单可行，提高了集成度、测试速度，提高电路的稳定 性等，但随之带来的增加了芯片面积，相应的也增加了电路的复杂性，并且检测信号也有 一定的局限性，关于激励生成电路和响应监视分析电路的实现也有一定的困难． — 一202 3几种常见的数模混合电路BIsT测试方案 3．1基于伪随机测试数模混合BIsT 伪随机测试是一种非确定性故障检测技术．它是在电路的 测 输入端以随机的输入向量为激励，然后用逻辑仿真的方法计 试 算正常电路的输出，最后与实测的输出信号比较，来确定实 控 制 测电路是否有故障． 嚣 基于伪随机测试数模混合BIST技术的难点是求系统的 相关系数．采用伪随机测试技术求相关系数的方法，完成对 MSC的测试：就是把被钡4模块置于一个D／A和A／D转换器 图1BIST的基本结构图 中。变模拟测试为数字测试，用线性反馈移位寄存器生成带 限白噪声作为激励，输入D／A转换器，面在A／D转换器取出，用它与线性反馈移位寄存 器的输出作相关运算，得到不同的特征值IlJ。 一 伪随机测试的优点是：(1) 旧||1一，o卜1cu-l1 D／A}… 不需要预先对电路故障集中的每 。_2 。 个故障去生成相应的测试向量； ”～ ’L二J ? ’钍’11111竺划一 (2)硬件开销小，且控制