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《集成电路测试技术》教学大纲 课程编号：MI4221019 课程名称：集成电路测试技术 英文名称： Testing Techniques of Integrated Circuits 学时： 30 学分： 2 课程类型：限选 课程性质：专业课 适用专业：微电子学 先修课程：数字集成电路,模拟集成电路 集成电路设计与系统集成 开课学期：7 开课院系：微电子学院 一、课程的教学目标与任务 目标：通过本课程的学习，掌握集成电路测试技术的基本知识，为后续课程学习打好基础。 任务：介绍数字系统测试和故障诊断技术的理论和技术，其中重点介绍测试向量的生成技术和方法以及测试向量的优化技术；数字系统可测性设计的基本概念和相关技术，其中对边界扫描设计的原理和有关标准IEEE 1149.1进行较详细的叙述。 二、本课程与其它课程的联系和分工 本课程的先修课程是数字集成电路和模拟集成电路。 三、课程内容及基本要求 （一）绪论（2学时） 具体内容：数字系统测试的发展概况，故障和故障模型，自动测试与故障诊断及检测，有关异或运算的一些问题。 1.基本要求 （1）了解数字测试的基本