JET-300 Win.doc

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2017-08-15 发布于山西
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JET-300 Win

中文窗口版使用说明书目录序言 5 测试的方法与原理 6 2.1 隔离(Guarding)的原理 6 2.2 电阻的量测方法 6 2.2.1 定电流测量法 6 2.2.2 定电压测量 7 2.2.3 相位测量法 7 2.3 电容测试 9 2.3.1 交流定电压源量测 9 2.3.2 直流定电流量测法 9 2.3.3 相位量测法 9 2.3.4 电容极性量测 10 电感器的测试方法 11 2.4.1 相位量测法 11 2.4.2 变压器次级圈绕错方向测试 11 二极管的测试方法 11 2.5.1 二极管顺向电压量测法 11 2.5.2 二极管并联量测技术 12 晶体管的三端点测量方法 13 晶体管测试方法 13 2.6.2 场效晶体管(FET)量测 14 2.6.3 光耦合晶体测试方法 15 电压测试的方法 16 低压测试 16 高压测试 16 2.8 集成电路的测试(IC Clamping Diode) 17 2.9 电源稳压IC之输出电压量测方法 19 2.10 短/断路测试的方法 22 2.10.1 学习短路表 22 2.10.2 短/断路测试 22 2.11 跳线测试(Jumper Test) 23 2.12 HP TestJet技术(选购Option) 23 2.13 IC SCAN技术