2-4GHzYIG振荡器可靠性增长探究.pdfVIP

2-4GHzYIG振荡器可靠性增长研究 电子工业部第九研究所 黄绍华 张礼科 展正交试验设计，利用逐步消除失效模式法和克劳可靠性阶段约束增长模型等增长、评 荡器的可靠性增长目标． 前 言 YIG调谐振荡器(简称YTO)，是一种能宽带调谐工作的微波固态信号源．由 于它具有调谐频带宽、线性度好、频谱纯、噪声低等特点，成为现代多种军事 电子装备和微波仪器的核心部件；用途极为广泛，如用在电子对抗中的宽带侦 察预警接收机中作本振源，频谱分析仪、频率综合器、噪声测试仪中作主振信 号，特别是宽带全景工作的固态扫描仪大部分都是使用YTO作信号源． 一般使用于整机的YIG振荡器在电路结构上(如图1)除了有振荡级外，还有 两级缓冲放大，并使用微波集成电路来实现．该器件包括电路、元件等总计元 件数约200多个，因此YIG振荡器已经是一个系统了． 调谐磁蹄部份 YIG小球谐振子部份有席宅蹄部份 图1 YTO的结构示意图 我所近几年已为多项军事重点工程研制和生产了多种产品．它是电子设备 和仪器的心脏，它决定了系统、设备的工作频段、灵敏度和分辩力等主要技术 参数；它的可靠性和寿命将直接影响整机的可靠性和寿命，它的失效将造成整 机的完全失效． 因此，对YTO的可靠性研究就极为重要，成为能否用于军事电子装备和精 不了使用需要，为此电子工业部军工基础局于1992年下达了此军用电子基础产 品的研究试制任务，周期为三年，于1994年完成了该项目的技术鉴定． 对于已批量生产的2—4GHzYTO的电气技术指标和可靠性指标如下： 平均无故障工作时间MTBT20000tJ、时 工作频率范围：2．0—4．OGHz 输出功率：20mW 边带相位噪声：85dBc／Hz(离载频20kHz处) 工作环境温度：一54～+85(℃) 失效模式及其分析 针对YIG振荡器存在的薄弱环节，从收集试验和使用中的信息，预计可能存 在的失效模式和失效机理如下 主要失效模式 失效机理 输出功率减小 分立电路，参数易变化，分散性 输出频率变窄 工作点漂移，元件稳定性、一致性差 无输出 管子开路，小球脱落或电容击穿 间歇工作 电子元器件环境适应性差 由此得图2，产品失效模式，原因及纠正措施． 失效模式 失效原因 纠正措施 输出功率 电路为分立元件，参数 CAD设计，采用薄膜 减少 易变化，焊点引线多 混合集成电路 无功率 MOS电容击穿，振荡管停 热设计，裕度设计， 输出 振，供电电源无保护 使用大容量元件 输出频率 振荡管工作点漂移，电路 容差设计，选择 窄变 元件稳定性一致性差 最佳电路参数 输出随时间 元件参数变化，环境 老化筛选，工艺稳定 环境变化 适应能力差 处理，降额设计 图2，产品失效模式，原因及纠正措施 实施TAAF循环增长过程 按研制阶段，开展TLAF循环，通过不断地设计、改进，实现产品可靠性增 长． 1、初样阶段的增长过程 我们从众多的影响因素中，选择如表l几种主要因素，设计了六因素二水 平的正交试验L8(z7)