机械振动对测试电路影响地研究.pdfVIP

98年第12卷第3期 测试技术学报 Voll2No3 1998 机械振动对测试电路影响的研究 j／ 、一 一 0—1 ；广 ， i-_； 张斌珍 张文栋 李永红 J (华北r学院太原03005I 赵燕严俊武 (航天部一院) 摘要．在环境恶劣的剥斌过程中，由于电路所处环境的机撼振动，可能会引起电路及元器件 的损坏，导致测试系统不能正常进行。本乏彳卜绍了在宴际中减弱或避免机械振动对电路可靠性 ● 影响的方法．从而达到测试过程的顺{，j进行． 关键词。机械振动 可靠性 0引言 机械振动的测量与分析是测