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改善 SC312 FT 測試穩定性 測試一廠 R340 黃敬晉 中正大學電機系 華邦電子測試二廠測試工程師 林廷慶 台灣技術學院機械系 華邦電子測試二廠測試工程師 許瑞仁 義守大學電子系 華邦電子測試二廠測試工程師 OUTLINE 選題理由 SC312 TESTER FT 測試容易發生兩頭差異，使得機台穩定性不佳。 因兩頭差異的產生，造成良率 loss，批結良率不高。 利用 “D.O.E” 手法，找出 最佳生產條件 ，以提升測試效率 。 現況分析(1) 現況分析(2) 現況分析(3) 預期目標 求穩 – 1. 機台 MTBF 1500 分鐘 2. 兩頭差異當機 INDEX 貢獻 2.0% 求準 – 1. 正批測試良率(批結不重測) 97% 特性要因圖 特性要因圖 要因分析 策略一 : 第一階段實驗 – 篩選主要因子 策略二 : 第二階段實驗 – 找出最佳生產條件 策略三 : 再現性實驗 直交配置 直交配列表 Experiment Plan Testing Result ANOVA analysis (1) ANOVA analysis (2) ANOVA analysis (3) 第一階段實驗結論Cross Table 最佳生產條件 直交配置 直交配列表 第二階段實驗配置 Testing Result ANOVA analysis (1) ANOVA analysis (2) 第二階段實驗結論 Experiment Plan Tester Handler : SC-4 SEIKO-4 Product : SB5521 Factor Settings : 第二階段實驗之最佳生產條件 Data Collection : 10/16 – 10/23 觀察重點 : 機台穩定性 及 測試良率 Machine Stability Conclusion (1) Test Yield (Histogram) 統計量分配分析 Test Yield (realtime_spc) Test Yield (by lot) 效益評估 標準化 Testing I / R340 ST = 71.18 @(%).= 22.79% ANOVA Result VARIANCE 無顯著因子 !!! Testing I / R340 貢獻度柏拉圖 隨機誤差 Testing I / R340 最佳生產條件 第三階段再現性實驗 Seeing is believing !! Testing I / R340 Testing I / R340 註: 10/16 – 10/23 RTC RECORD 表示當機 表示生產 表示工程 表示 setup SC-4 測試狀況 Testing I / R340 SC-4 測試週 MTBF 比較 Machine Stability Raise ! MTBF=8512 分 Testing I / R340 Realtime 測試良率 Testing I / R340 (σ= 0.72%) (μ=97.79%) LCL=μ- 3 σx Testing I / R340 σx =σ/√n Average Yield = 97.20% Testing I / R340 10/16 – 10/23 各批測試良率 Conclusion (2) Testing I / R340 * * R340 DOE IMPROVE TEAM 現況分析 要因分析 第一階段實驗 第二階段實驗 第三階段再現性實驗 標準化 現況分析 R340 SC312 測試 FT 7/8/9 月各機台 MTBF 比較 Testing I / R340 Testing I / R340 Testing I / R340 SC-4 測試 SB5521 3/4/5/6/7/8 月平均良率 Testing I / R340 要因分析 R340 為何FT測試會有兩頭差異 Tester 有問題 PE/card有問題 PE/card品質不良 PE/card level shift Test head mount機不佳 Head與handler mount機位置不佳 Tester位置不佳 head沒水平 Head水平位置不正 支撐架支撐不當 太緊 太鬆 Contact不良 Contact壓力不當 太大 太小 Socket不良 Socket阻值太大 測太久 氧化 沾有異物 Socket損壞 壓2顆IC 測太久變形 Contact blade不良 壓痕太深 壓座損壞 Contact blade安裝不良 墊片厚度不