功率白光LED结温非接触测量技术探讨与实现.pdfVIP

广东省光学学会2009年学术交流大会 功率白光LED结温非接触测量技术探讨与实现。 赵光华1，陈海燕2 (1中国科学院广州电子技术研究所，广州510070；2中山大学，广州510275) 在照明应用中，如果散热结构无法保持LED的结温在允许范围内，LED将无法获得稳定的 光输出和维持正常的器件寿命。因此，大功率白光LED的结温测量及其热稳定性是一个业界极其 关心的问题。本论文研究了大功率白光LED结温的非接触光谱测量方法和实现技术，利用白光 LED光谱功率分布曲线中蓝光与黄光部分积分比值来测量结温，可以避免破坏器件的整体性，并 避免由于电学器件接入而带来的系统误差。 由于GaN基半导体材料的禁带宽度与温度的依赖关系，随着结温升高，LED发光光谱功率分 布曲线中蓝光部分的峰值波长红移，导致进行白光转换的荧光粉有效激发效率降低。另外，随着 温度的升高，荧光粉的光转化效率也在减小，由此导致的发光减弱比蓝光红移更显著。显然，大 功率白光LED发光光谱功率分布中黄光部分与蓝光部分的积分比值R是结温的函数。 本论文报道的实验工作构建一套由光谱仪、计算机、恒温装置、集光光缆、恒流电源、等组 成的LED结温测量系