解决普通混频器测量的技术难题.docVIP

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  • 2017-08-13 发布于重庆
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解决普通混频器测量的技术难题.doc

解决普通混频器测量的技术难题 一、多端口测试系统可以同时实现高速度和高精度 A, multi-port test system can achieve high speed and high precision at the same time   传统vna使用一个作为激励的rf信号源,并采用多路测量接收机来测量正反两个方向上的入射、反射和传输信号;传统vna有两个测试端口,因为早期的大多数器件只有一个或两个端口。为了对多端口器件进行测量,就需要在被测器件(dut)的各个端口之间多次变换测试电缆和端接负载,直到完成对所有端口的测量。现在,rf系统所使用的许多器件都有三、四个端口,多至七、八个端口的器件也变得越来越常见。导致器件端口数量提高的原因有两个:一个是平衡元器件的广泛使用,另一个是子组件的集成程度不断提高,如当前手机中使用的前端模块。为此,可以考虑增加测试系统的测试端口数量进行放大器和混频器的测量。多端口测试系统与使用传统的两端口vna相比,大大地提高了测试速度。因为它有四大改进: Traditional vna using a a rf signal source of motivation, and USES the multi-channel measurement receiver to measure the positive and nega

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