1TiNi圆柱壳径向动态冲击响应的实验的研究.pdfVIP

第十届全国冲击动力学学术会议论文集 1TiNi 圆柱壳径向动态冲击响应的实验研究* 唐志平， 张会杰 中国科学技术大学近代力学系，合肥，230026 1 引言 光nU 柱壳由于具有比能耗高、大变形承载力稳定和变形行程长，可用于缓冲和能量吸收装置 [1]-错误！未找到引用源。，已经广泛用于土建、机械和交通领域。但是传统材料柱壳结构元 件往往是一次性的，不能重复使用。形状记忆合金材料 （SMA ）给研发可重复使用的柱壳提 供了可能。SMA 是一类兼具功能性和结构强度的智能材料，也是近年来重点研究开发的功能 性材料之一。它具有形状记忆效应（SME ）和伪弹性效应(PE)两种重要特性，其机理在于在 一定应力和温度条件下产生的热弹性奥氏体-马氏体相转变[9]。 平轧] 相变柱壳静、动态性能的研究以轴向加载居多，主要集中在相变柱壳的轴向屈曲模态、 主失稳阈值及相变演化方面[11]。相变圆柱壳的径向压缩特性主要在准静态方面，其径向冲击 特性研究报道很少。Kahn 等[16]得到了柱壳准静态径向压缩载荷-压缩位移量曲线。Rivin 等 [17]发现径向准静态压缩下，相变柱壳呈典型的8 字型屈曲形状，最大相对压缩量小于62 ％ 时完全可逆，超过将导致柱壳的马氏体相塑性变形。最近，我们对各种约束条件下的单管和 多管结构的准静态压缩行为进行了实验研究[19] 。本文在此基础上，使用改进后的SHPB 实 验装置结合高速摄相机对单个TiNi 柱壳在两向约束条件下进行径向动态冲击研究，探索其 结构动力响应。 2 实验设置 图1 为实验装置示意图，子弹与压杆采用铝合金，直径14.5mm，子弹1 和子弹2 均为 80mm 长，入射杆长 400mm、透射杆长 3000mm。入射杆上的半导体应变片用来触发高速 CCD 和超动态应变仪，子弹2 的中间位置贴普通应变片，其信号用于计算柱壳左端面处的 位移，透射杆距试件200mm 处贴半导体应变片，应变信号用于计算透射杆左端面处的作用 力和位移，并视为柱壳的载荷和右端面的位移。 nUll上计 降觥呷__兰 图1 实验装置示意图 实验中应变测试系统由以下几部分组成：1、中科大冲击动力学实验室WA-02 型超动态 * 国家自然科学基金资助项目。 第十届全国冲击动力学学术会议论文集 应变仪；2、成都泰斯特电子信息公司生产的TST 3206 型动态测试分析仪和计算机组成的数 据采集系统，采样频率为 20MHz ，采样长度为 2ms ；3、蚌埠天光传感器有限公司生产的 TP-5-120 型半导体应变片，阻值为120，灵敏度系数为 110±5%。高速图像采集系统采用 日本PHOTRON 公司生产的Photron APX 120KC 高速摄像系统，实时记录柱壳的变形过程， 拍摄频率30,000fps，分辨率256*128 。 试件为美国DNC 公司生产的TiNi 圆柱壳，处于PE （伪弹性）状态，试件几何参数： 外径D 、壁厚t 和径厚比D/t 分别为8.00mm、0.38mm 和21 ，长度l 为9.90mm 。弹塑性圆 柱壳采用镀铬铜壳，外径、厚度和径厚比分别为6.94mm、0.28mm 和25 。 下面简要介绍应变片信号处理方法。由于子弹2 的质量和刚度远大于TiNi 圆柱壳，可