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霍尔效应(两点式,回归法求斜率).pdf
半导体霍尔电压和霍尔灵敏度的测量
总分( )评卷人( )
大学物理实验考试试卷
姓 名: 院队别: 实验组别:
学 号: 完成日期: 时 间: 120 分钟 总 分: 100 分
题目:半导体霍尔电压和霍尔灵敏度的测量
仪器:霍尔效应测试仪、霍尔效应实验装置、数字万用表以及如干导线等。
要求:固定 Is(工作电流),取 I 分别为:0.200,…0.700A,作出V I 关系曲线;
M M
H
由图求出该半导体器件的霍尔灵敏度K (B与I的关系见线圈上的参数)。
H M
得分( )一、[实验原理] (20 分)
运动带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用引起偏转,导致在垂直电流和磁场的方向上产
生正负电荷的聚积,形成附加的横向电场,即霍尔电场。 Y
A C
l
X
电流I S 沿 X 方向,磁场B 沿 Z 方向。
d
Z
FE
V IS VH v -e b
霍尔器件的霍尔灵敏度:KH H Fg
I B
S
A C
在产生霍尔效应的同时,伴随着多种副效应产生附
加电压叠加在霍尔电压上,形成系统误差,即:爱廷豪森效应效应、能斯托效应、里纪—
勒社克效应和不等位电势差。根据副效应产生的机理,采用电流和磁场换向的对称测量法,
基本上能够把副效应的影响从测量的结果中消除。具体方法是保持I S B I M
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