霍尔效应(两点式,回归法求斜率).pdfVIP

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霍尔效应(两点式,回归法求斜率).pdf

半导体霍尔电压和霍尔灵敏度的测量 总分( )评卷人( ) 大学物理实验考试试卷 姓 名: 院队别: 实验组别: 学 号: 完成日期: 时 间: 120 分钟 总 分: 100 分 题目:半导体霍尔电压和霍尔灵敏度的测量 仪器:霍尔效应测试仪、霍尔效应实验装置、数字万用表以及如干导线等。 要求:固定 Is(工作电流),取 I 分别为:0.200,…0.700A,作出V I 关系曲线; M M H 由图求出该半导体器件的霍尔灵敏度K (B与I的关系见线圈上的参数)。 H M 得分( )一、[实验原理] (20 分) 运动带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用引起偏转,导致在垂直电流和磁场的方向上产 生正负电荷的聚积,形成附加的横向电场,即霍尔电场。 Y A  C  l X 电流I S 沿 X 方向,磁场B 沿 Z 方向。 d Z FE V IS VH v -e b 霍尔器件的霍尔灵敏度:KH H Fg I B S A C 在产生霍尔效应的同时,伴随着多种副效应产生附 加电压叠加在霍尔电压上,形成系统误差,即:爱廷豪森效应效应、能斯托效应、里纪— 勒社克效应和不等位电势差。根据副效应产生的机理,采用电流和磁场换向的对称测量法, 基本上能够把副效应的影响从测量的结果中消除。具体方法是保持I S B I M

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