无损检测用短脉冲超声探头的设计和结构.pdfVIP

维普资讯 趁歹 彩 敢 叶 7 一 无损检测用短脉冲超声探头的设计和结构 L。 c 强 带 本 仝 G．C．LOW R．V．JON D S 。 ’‘ T 卜737昂7．- 摘娶 本文论述 以可能的最短 脉 冲 长度 下面介绍在所有外部声负载条件下， (频带最宽)工作条件下所 使 用 的10 可重复制作的以可能最短的脉冲长嘘工作 MHz纵波超声无损检测探头的设计和结 的lOMHz探头的技术。 构的重要性。钨负载环氧树脂背村块是装 宽带超声探头 入探头前单独制作的，这种制作方法只使 超声无损柱蔼探头一态响应的理论分析 用少量制作设备而能保证高阻抗的背村。 率文采用晟简单的分析疗法．假定不 做好这些准备工作之后，使用简单的生产 失真的平面纵波在所有 阶段通过无损耗的 夹具把晶片和背衬装配成探头。 介质传播，也考虑了所有连接 电极及其插 序育 入层片的影响。而且发射晶片的假定电激 用纵波进行无损检测的基本超声探头 励 (持续时间可变的单个三角形单向电脉 主要 由粘结着一些背衬块的压 电 晶 片 组 冲)，相当完善地模拟了由很多标准无损 成。背衬块提供必要的机械支承，也阻尼 检测装置在实践 中所提供的激励型式。 高度谐振晶片的振动。由 于 存 在 (一般 计算机程序能够把发射探头的电输入 的)台成背村材料声阻抗的变化，标称相 完全转换为接收探头的最终电压输出，尽 等的压 电晶片特性的变化。压电晶片必要 管这是过份简单的方法。但通过实验和理 的电连接和某种形式的前面保护膜所弓I起 论 的比较 已证实采用这种方法可以获取准 的复杂因素，最重要的一点是难 以控制插 确的脉冲波形预示。当然，所使用的方法 入粘结层片的厚度，所 以，要使探头以可能 必然是不能用来确定诸如近场和远场波束 的最短脉冲长度 工作特别困难 。 的真截面凰，或者说不能确定试验材料的 的透照参数时，应考虑几何不清 晰 度 与 构成透照参数系。能量条件仍是基于大量 胶片固有不清晰度的关系。近 几年 来， 的经验数据，为 了能够构成一个完整的逢 R．Ha1mshaw博士又重新强调了这个观 照参数系，必须规定一 个 基 础 的 曝 光 点，并认为应从建立几何不清晰度U g与 量 。在理论上，这种规 定透照参数的形式 胶片固有不清晰度Ui之闻的关系确定射 将 比现在射线照相方法标准的规 定 更 台 线照帽方法的技术级别。即 理，其在实践上存在的一个需要解决的问 A级应满足tU g=2Ui； 题是，对轻台金材料的射线照相检验，将 B缴应满足。Ug=Ui 或 要求很大的焦距，从两需要银大 韵 曝 光 LTg Ui／2． 量。 从而实现射线照相技术中透照电匿与焦距 如何构成科学的、合理的射线照槲透 对射线照相灵敏度影响的和谐性。 照参数系．这个闽题 已弓I起了一定 的 注