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各种测温元件性能比较.pdf

HAYASHI DENKO 铂电阻元件 日本林电工HAYASHI DENKO 铂电阻测温元件 薄膜铂电阻: 用真空沉积的薄膜技术把铂溅射在陶瓷基片上,膜厚在 2μm 以内,用玻璃烧结料把Ni(或 Pd)引线固定,经激光调阻制成薄膜元件。 绕线铂电阻(陶瓷、玻璃、云母):用φ0.02~0.04 ㎜ 高纯铂丝绕制而成. 薄膜铂电阻系列 外形尺寸 标称阻值 工作电流 引线尺寸 工作温度 外形图 型号 误 差 W×L×Hmm R0 mA W×L×H mm ℃ mm CRZ-1632-Ni 0.25×0.15×12 -40~450 1.6×3.2×1.0 1 CRZ-1632-Pd 0.3×0.2×10 -50~500 100Ω H CRZ-2005-Ni 0.25×0.15×12 -40~450 1/3DIN 2 CRZ-2005-Pd 0.3×0.2×10 -50~500 A W CRZ-2005-Ni 2.0×5.0×1.0 500Ω 0.5 0.25×0.15×12 -40~450 B L 2B CRZ-2005-Pd 1000Ω 0.5 0.3×0.2×10 -50~500 ST-1003-Pt 1.0×3.0×1.3 20Ω 1 0.25×0.15×12 -50~500 高温抗震薄膜铂电阻 外形尺寸 标称阻值 工作电流 引线尺寸 工作温度 外形图 型号 误差 W×L×H mm R0 mA W×L×H mm ℃ mm

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