低温小立体角α谱仪的研制.pdfVIP

　第 31 卷第 5 期 原 子 能 科 学 技 术 . 31, . 5 V o l N o 　1997 年 9 月 A tom ic Energy Science and T echno logy Sep. 1997 低温小立体角 谱仪的研制 陈　伟 杨吉纯　陈　达 ( 西安交通大学, 710049) 　　　　( 西北核技术研究所, 西安, 710024) - 2 研制了 1 套工作温度在室温至- 275 ℃、面源对探测器所张的相对立体角在 5287 ×10 — - 4 1119 ×10 之间、分辨率达到 133 的低温小立体角半导体 谱仪, 研究了谱仪分辨率与探测 keV 器温度和相对立体角之间的关系。该谱仪已应用于 放射性比、 粒子能量、 粒子辐射几率和 放 射性活度的测量。 关键词　低温　小立体角　 谱仪　分辨率　 放射性活度 为了准确测定 粒子能量、 放射性比和 粒子辐射几率, 除采用高精度的 谱分析技术 外, 还要尽可能提高 谱的分辨率。半导体 谱仪的分辨率主要取决于放射源的质量、测量条 件以及探测器和核仪器的性能。采用薄而均匀的放射源、高分辨率的金硅面垒探测器、性能优 良的低噪声电荷灵敏放大器、以及降低探测器工作温度和在小立体角下测量, 可使分辨率得到 明显改善。同时, 在小立体角下测量, 可以避免内转换电子对 谱的干扰, 对 粒子辐射几率的 准确测定十分有利。为此, 研制既可工作于低温, 又可工作于小立体角几何条件下的高分辨率 半导体 谱仪很有必要。由于能准确测定探测器准直光阑与放射源的几何尺寸及其相对位置, 采用面源对探测器所张立体角的准确计算方法, 该谱仪还能用于 放射性活度的绝对测量。 1　谱仪装置及主要性能 11　谱仪装置 低温小立体角 谱仪框图示于图 1, 它由小立体角真空室、核测量仪器、制冷系统、真空测 量系统和数据记录部分组成。 小立体角真空室用不锈钢制作, 包括底座、筒体、上盖和源托架。筒体内径为 150 mm , 高 度为 150 mm , 前面开有 1 个直径为 106 mm 的取放源的窗口。上盖上装有50 mm 2 金硅面垒 探测器、4 块 40 mm ×40 mm ×5 mm 的半导体制冷片、前放插座、温度传感器以及源托架等。 放射源托架共有 17 个源位, 间隔为 5 mm , 托架顶端装有 1 个直径为 4 013 mm 的准直光阑。 测量时可根据不同的要求和条件, 通过改变源的放置位置来选择测量立体角的大小。立体角的 值可通过计算得到。 核测量仪器由 2003 型电荷灵敏前放、2022 型线性放大器、多路混合器、300 电源及 BT