NAND FLASH在储存测试中的应用.docVIP

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NAND FLASH在储存测试系统中的应用 (3) 2009-11-09 22:35:43 来源:王文杰 马游春 李锦明 关键字:NAND FLASH 储存测试 K9K8G08UOM   2 NAND FLASkI Memory的硬件部分   本设计当中,FLASH的数据输入输出口、控制端口通过调理电路与FPGA的端口相连,图4所示是其硬件连接电路。   从图4中可知,FLASH的数据输入输出端口I/00~7、控制端口/CE、是通过芯片SN54LV245与FPGA相连;FLASH的控制端口cLE、 ALE、/WE、/RE通过芯片SN54LV245和芯片74HCl4与ITGA相连。其中F-CLE、F-ALE、F—WE、F-RE、F—CE、F- R/Bur是FPGA的I/O口,是FPGA逻辑的输入输出口。CLE、ALE信号是FLASH存储器命令、地址锁存使能信号,/WE是保证命令、地址、数据能否及时正确的写入FLASH的信号,/RE信号控制着数据的读取,这些信号的精确度关系着FLASH存储、读数功能的实现。所以,这些信号的好坏直接关系着FLASH的正常工作。经实践的电路调试,这些信号在传输过程中受到了其它因素的干扰,信号明显失真,在电路中加入74HCl4(非门)以后,信号会变得光滑,准确。   芯片SN54LV245是八进制三态总线收发器,DIR=1时,总线传输方向从A→B;DIR=0时,总线传输方向从B→A。/OE是片选信号。/0E,DIR信号是由FPGA内部编程逻辑控制的。   FL,ASH接口中,为了保证/wE、/RE、/CE、R/B控制信号初始状态无效,由硬件电路实现端口值拉高。本设计中不使用写保护功能,所以/WP端口也接上了上拉电阻。   3 结束语   基于闪存技术的固态存储器存储密度大,功耗小,可靠性高,体积小重量轻且成本也在不断降f氐,在航空应用中有良好的应用前景。在设计储存测试系统时选用大容量的NAIXD FLASH存储器大大提高了储存、读取速度,并且设计电路结构简单,易于修改。 (本文转自电子工程世界:http://www.eewo 闪存芯片KM29N32000TS在单片机系统中的应用 发布:2011-09-02 | 作者: | 来源: ducuimei | 查看:492次 | 用户关注: 摘要:介绍32M位闪存芯片(FlashMemory)KM29N32000TS,并以87C552单片机为例介绍它在单片机系统中的硬件连接和软件编制方法。该芯片与单片机的硬件连接电路简单,可扩容能力强,易于编程,且体积小、容量大,具有很高的实用价值。关键词:KM29N32000TSFlash存储器单片机系统在许多测量和测试应用系统中,如便携式仪器等其它电池供电系统,需要保证数据的可靠性和可用性,即使整个系统掉电,而所采集到的数据仍能长时间的保持不丢失 ?? 摘要:介绍32M位闪存芯片(Flash Memory)KM29N32000TS,并以87C552单片机为例介绍它在单片机系统中的硬件连接和软件编制方法。该芯片与单片机的硬件连接电路简单,可扩容能力强,易于编程,且体积小、容量大,具有很高的实用价值。 ??? 关键词:KM29N32000TS Flash存储器 单片机系统 在许多测量和测试应用系统中,如便携式仪器等其它电池供电系统,需要保证数据的可靠性和可用性,即使整个系统掉电,而所采集到的数据仍能长时间的保持不丢失。闪存技术的发燕尾服提供了这种可能性。闪存的非易失性非常优越,数据可保存长达10的。本文将介绍32M位闪存芯片KM29N32000TS及其在87C552单片机系统中的应用。 1 KM29N32000TS简介 KM29N32000TS作为闪速存储器兼有E2PROM的可编程能力和非易失性,并且容量大、速度快,只需单5V供电便可做读、编程、擦除等操作。图1是它的存储器组织图。 ??? KM29N32000TS是44(40)脚表面封装器件,封装 尺寸为18.80mm#215;11.78mm×1.20mm,内部有(4M+128K)×8位的存储空间,组织成8192行,(512+16)列,其中最后16列为后备列,列地址为512~527。可以进行以512字节为一页的页读、字操作和以8K字节为一块的块擦除操作,有一个528字节的页豁口用于页读、页编程时存储单元的数据传输。 KM29N32000TS的突出优点在于:命令、地址和数据信息均通过8条I/O线传输,这样4MB空间的22位地址需要分三次写入地址寄存器,经译码后访问相应单元。对单片机而言,当需扩展的存储空间超过64KB时,寻址便会存在一定困难,系统的连线复杂而使可靠性降低。采用这种闪速存储器便能克服上述困难,而且便于各式级到更大容量而无需要改外部连接。 ?

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