利用霍尔效应测磁场实验的数据处理.pdfVIP

第 21 卷 第 4 期 大 　学 　物 　理 　实 　验 　 Vol . 21 N o. 4 2008 年 12 月出版 PHYSI CAL EX PERIM EN T OF COLL EGE Dec. 2008 ( ) 文章编号 :1007 - 2934 2008 04 - 0065 - 06 利用霍尔效应测磁场实验的数据处理 任丽花 ( ) 东南大学, 南京, 211189 摘 　要 　推导了亥姆霍兹线圈产生磁场的全空间分布的普遍公式 , 讨论了如何确定磁 感应强度的方向。就实验内容进行了实例分析, 利用 M atlab 软件进行了相关计算, 提出 了利用霍尔效应测磁场实验的数据处理方法 。最后, 详细讨论了亥姆霍兹线圈所在平 面处磁场强度相关参数的分布曲线 。 关键词 　亥姆霍兹线圈; 霍尔电压; 磁感应强度; 分布; M atlab 计算 中图分类号 : O484. 5 　　　　文献标识码 :A 0 　引言( ) 实验回顾 如图 1 所示, 把一块宽为 b 、厚为 d 的半导体试样放在磁感应强度为B 的磁场中, 并 在试样中通以纵向电流 Is ,则在这块半导体试样横向侧面 AA ′间出现了一定的电势差 UH , 这个现象叫做霍尔效应, UH 称为霍尔电压 。霍尔电压 UH 的大小正比于磁感应强度的大 ( ) 小B 以及电流I , 在 U 、B 、Is 三者互相垂直时有 : U = K I B 1 。式中 K 称为该霍尔元 S H H H S H 件的灵敏度 。 图 1 　霍尔效应原理图 实验所用仪器为DH4501N 三维亥姆霍兹线圈磁场实验仪 ,实验仪由信号源和测试架 两部分组成 ,测试架由共轴线圈、装有霍尔元件的三维可移动探杆构成 。其中可通过调节 共轴线圈之间的垂直距离等于它们的半径获得亥姆霍兹线圈。霍尔元件在测试过程中位 于与线圈轴线垂直的平面内。综上可见 ,对于实验必做部分 , 由于亥姆霍兹线圈轴线上各 收稿 日期 :2008 - 08 - 27 — 65 — [2 ] ( ) 点的磁感应强度方向为轴线 ,即满足式 1 ,所以可以测量轴线上各点的霍尔电压 ,再根 ( ) 据式 1 ,将各点的霍尔电压除以系数 K Is ,然后得到各点的磁感应强度的大小 。从而亥 H 姆霍兹线圈轴线上的磁场分布曲线与其霍尔电压分布曲线形状相似 ,二者只相差一个系 数 K Is 。那么 ,对于选做实验中涉及的亥姆霍兹线圈轴线以外的点 , 由于其磁感应强度的 H 方向还没有明确 ,所以应该先讨论各点磁感应强度的方向是否为轴线 ,再决定其数据处理 方法是否与必做实验相同。我们通过理论推导发现 ,亥姆霍兹线圈轴线以外的磁感应强 θ( ) 度方向并不一定沿轴线 ,并将磁感应强度的方向与轴线的夹角记为 见图3