一种用于一次谐波背景消除与基线校正的新型方法.pdfVIP

物理 学报 ActaPhys．Sin．Vo1．63，No．7(2014) 070702 一 种用于一次谐波背景消除与基线校正的 新型方法术 张锐1)2)t 赵学珏 ) 胡雅君 ) 郭媛 ) 王拮 )赵迎 )李子晓 )汪噍 ) 1)(天津大学精密仪器与光电子工程学院，天津 300072) 2)(天津科技大学电子信息与自动化学院，天津 300222) (2013年9月18日收到；2013年12月l1日收到修改稿) 针对可调谐半导体激光吸收光谱一次谐波信号中具有背景信号及较大的基线信号，提出一种新型的背景 消除与基线校正的处理方法．分析了一次谐波背景中的激光器相关强度调制信号，电子学噪声和光学干涉条 纹，采用无吸收谱线区域检测谐波方法消除背景信号．给出了激光器不同工作温度时的电流和强度之间的关 系曲线，由此设计出消除背景后剩余基线的校正方法．文中给出了背景搜索方法的原理以及LabView软件流 程图．设计了检测氟化氢气体的实验系统，根据谱线选取原则确定吸收谱线为1312．59nm，设置激光器的工 作温度为27．0。C，对应的背景温度为30．2。C．一次谐波信号经过背景消除和基线校正后，信号的畸变得到明 显改善，基线得到校正，验证了该方法在激光器其他工作温度 (26．7—27．2)是有效的，并对HF气体浓度精度 的改善进行了定量分析，为一次谐波信号的后续处理提供了方便． 关键词：可调谐半导体激光吸收光谱，一次谐波，背景消除，基线校正 PACS：07．07．Df，07．57．Ty DOI：10．7498／aps．63．070702 均值的比值，可抑制光源波长漂移和扫描步长等因 1 引 言 素对系统检测精度的影响L17_． 在1f信号中具有背景及较大的基线信号，在 可调谐半导体激光吸收光谱ftunablediode 后续的信号数据 处理 中，需要进行背景消除及 laserabsorptionspectroscopy,TDLAS1技术广泛 基线校正． 目前在背景消除的研究中，Ruxton 应用 于痕量气体 检测 [i--4】． 在 TDLAS中多采 等 [1U,18,19】使用延时光纤消除相关强度调制信号． 用波 长调 制光谱 fwavelengthmodulationspec— Reid等 2[o_23】利用增加额外调制手段、改变光程、 troscopy,WMS)技术，对激光器波长实现高频调 采用高调制频率或者复杂的数据处理方法消除光 制并采用谐波检测技术，可消除激光器和1／f噪 学干涉条纹．W_er1e等 【】采集通零气时的背景信 声 [5_81．在谐波检测技术 中通常选用幅值较大的 号进行谱线相减的背景消除方法．在基线校正的研 一 次谐波 (thefirstharmonic，If)和二次谐波 (the 究中，常采用多项式拟合 [25,26】、导数法 [27]、正交投 secondharmonic，2f)作为检测信号，其中1f信号 影法 2【8】、小波变换法 2【9j3o】、奇异值分解法 3【1]等方 的作用有：根据1f信号的峰峰值进行气体浓度检 法．但是还没有针对TDLAS中的1f信号的背景及 测 [9,10】．在免校准技术 中用于标准化2f实现消除 较大基线的特殊性提出解决方法． 激光光强的变化 [ii-i5】．利用1f重构吸收线型，实 本文提出了一种用于一次谐波背景消除与 现免校准的气体浓度检测 [16]．利用 1f峰谷值与平 基线校正的新型方法．以氟化氢fhydrogenfluo一 }国家重点基础研究发展计划 (973计划)(批准号：2010CB327800)和高等学校博士学