非漫发射体温度测量原理.pdfVIP

第34卷 ，第12期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 Vo1．34，No．12，pp3188—3191 2014年 12月 SpectroscopyandSpectralAnalysis December，2014 非漫发射体温度测量原理 辛成运 ，宋正昶 ，戴景民 ，张 昱。，李意民h，杜香寒。 1．中国矿业大学电力工程学院，江苏徐州 221116 2．哈尔滨工业大学电气工程及 自动化学院，黑龙江 哈尔滨 150001 3．中航工业合肥江航飞机装备有限公司技术中心，安徽 合肥 230026 摘 要 辐射测温以Planck定律为基础可以在不同的空间位置测量物体表面的发射辐射来反演温度，以实 现物体表面温度的非接触测量，具有重要现实意义。Planck定律确立了光谱辐射强度与黑体温度之间的定 量关系，然而在辐射测温理论和实践研究中，实际物体表面光谱发射率的复杂性和未知性成为辐射温度精 确测量的主要障碍。基于特定的发射率模型，可以在未知晓物体表面发射率的条件下实现物体温度的非接 触测量 ，但此时难于考虑被测物体的非漫发射特征。为了在有限立体角辐射测量条件下实现非漫发射体温 度测量，研究中直接从辐射测量方程出发，经过适当数学转化后，提出了辐射测温中的一个新概念一表观发 射率，并对其特征进行了分析，结果表明在对非漫发射体进行温度测量时在同一次测量中，表观发射率虽然 形式上很复杂但仅是波长的函数，可以直接针对波长进行模型构建，进而可以在有限立体角辐射测量条件 下实现非漫发射体温度的封闭求解 ，进而给出了有限立体角辐射测量条件下非漫发射体的波长和波段测量 方程。同时，还对有限面积条件下的温度测量进行了研究，发现如果具有非漫发射特征有限面积上的温度处 处相同，基于表观发射率的构建也可以实现温度的封闭求解。 关键词 辐射测温；非漫发射；多波长；表观发射率 中图分类号：0432．1 文献标识码 ：A DOI：10．3964／j．issn．1000—0593(2014)12—3188—04 化后，引入了表观发射率 的概念，通过表观发射模 型的构 引 言 建，进行非漫发射条件下的多通道辐射测温。点辐射测量方 程易于针对微元 目标面进行描述，对于有限面辐射测温方程 辐射测温[14]基于 Planck定律通过测量物体发射辐射信 而言，引入有限目标处处等温假设 ，基于表观发射率概念也 息来实现温度的非接触测量，具有广泛应用l5]。然而，实际 可以方便实现非漫发射条件下有限目标面的点温测量。 物体光谱发射率的不确定性一直是辐射测温封闭求解的关键 障碍 l10_。多波长测温方法_l1。’Ⅲ和多波段测温方法_2’” 分 1 非漫发射条件下多光谱测温原理 别通过多通道的单色和波段辐射信息测量 ，并构建适宜的发 射率模型来实现温度的反演。发射率模型的构建为解决光谱 分别对非漫发射条件下针对微元面和有限面积的点温测 发射率的未知性问题提供了一种有效算途径，但为简化计算 量方程进行了推导 ，在有限面点温测量方程推导过程中需引 所构建的发射率模型难于考虑发射辐射的方向复杂性，主要 入有限面上等温假设，所得适宜于非漫发射物体温度测量的 是基于漫发射假设，会造成一定的模型误差。采用多通道测 辐射测量方程中引入了表观发射率的概念，这样就将多通道 温度时，表面发射率的非漫发射特征可能造成辐射测量方程 测温所需进行的发射率模型构建转化为表观发射率模型的构 组的不封闭，需要引入线性或多项式发射率模型后再进行相 建。 应的数学转化[15,16才能实现测温方程组的封闭求解。研究工 1．1 微元面非漫发射测温方程