RF ID智能卡可靠性预计模型的研究.pdfVIP

维普资讯 第 37卷第 6期 微 电 子 学 Vo1．37，No．6 2007年 12月 ^ roelectronics Dec．2007 RFID智能卡可靠性预计模型的研究 张 超，阳 辉，方葛丰，陈洪云，何怡刚 (湖南大学 电气与信息工程学院，长沙 410082) 摘 要：通过对集成电路可靠性预计模型的理论和RFID智能卡结构的研究，结合MIL-HDBK一 217F，建立了RFID智能卡可靠性预计模型，使RFID智能卡研制进程有定量分析结果作为依据， 避免了因缺乏实现可靠性、维修性指标所必须采取的技术措施，或因所采取的措施带有很大的盲 目 性而造成经济上和时间进度上的重大损失。 关键词： 可靠性预计模型；电路失效；RFID；智能卡 中图分类号：TN406 文献标识码 ：A 文章编号：1004～33652【007)06—0776—03 StudyonReliabilityPredictionModelofRF ID SmartCard ZHANG Chao，YANG Hui，FANG Ge-feng，CHEN Hong—yun，HEYi-gang (CollegeofElectricalandInr_厂0rmationEngineering，HunanUniversity，Changsha410082，P．R．China) Abstract： A reliabilitypredictionmodelofRFID smartcardwasproposedbasedonthestudyofthereliability predictionmodelofintegratedcircuitsandthestructureofRFID smartcard，withreferencetoMIL—HDBK一217F． Thepropo sedmodelprovidedquantitativeanalysisresultfordevelopmentprocessofRF 1D smartcards，SOthatnec— essarymeasuresreliabilityandmaintainabilitycouldbetakenwhenneeded，greatlyreducingbothtimeandcost． Keywords： Reliabilitypredictionmode1；Circultfailure；RFID；Smartcard EEACC： 0170N 路的失效类型与诸影响因素的关系可以归纳如图1 1 引 言 所示。 可靠性是一种按照规定条件工作时，在要求的 时间周期内产品将完成规定功能的概率。可靠性预 计的目的是判断提出的设计是否符合统计上的可靠 性要求。可靠性预计可在产品早期设计中评估不同 的候选方案和提出设计方向。它可以节省时间、资 金和材料，而且能帮助改进设计，使最终的产品物有 所值。早期可靠性预计还可用于产品的可生产性、 图1 集成电路失效类型及其影响因素 可维护性、整个寿命周期费用、保障和后勤支援的评 Fig．1 ICfailuretypesandimpactfactors 估。因此，面对当前 日益复杂化的系统和设备的设 计，可靠性预计显得越来越重要。 图1中，工艺质量、芯片材料和外壳质量因素指