红外热成像技术在薄膜硅组件制造中应用.pdfVIP

第 12届中国光伏大会暨国际光伏展览会论文（议题B） 11 11 红外热成像技术在薄膜硅组件制造中的应用红外热成像技术在薄膜硅组件制造中的应用 红外热成像技术在薄膜硅组件制造中的应用红外热成像技术在薄膜硅组件制造中的应用 王大伟 王大伟 张英张英 李宏李宏 沈金虎沈金虎 刘学千刘学千 鹿丽鹿丽 孟庆凯孟庆凯 徐超徐超 刘涛刘涛 王大伟王大伟 张英张英 李宏李宏 沈金虎沈金虎 刘学千刘学千 鹿丽鹿丽 孟庆凯孟庆凯 徐超徐超 刘涛刘涛 贾海军 贾海军 麦耀华麦耀华 贾海军贾海军 麦耀华麦耀华 （河北省保定市高新区恒源西路 888号 保定天威薄膜光伏有限公司 0312-3309928） 摘要：摘要：红外热成像技术具有方便、快捷和无损伤的检测特点，其在薄膜硅组件制造中有着 摘要摘要：： 重要的应用意义。薄膜硅组件的膜层沉积质量和激光划线质量的检测、以及薄膜硅组件经加 速环境老化测试后的检测在薄膜硅组件的质量控制过程中非常重要。本文借助红外热成像技 术，重点研究了其在薄膜硅组件制造过程中及在可靠性检测中的应用。红外热成像技术能够 快速检测出薄膜沉积过程中的电池分流通路(Shunt)点和激光划线的缺陷，对经过 1000 小时 湿热老化组件进行热成像测试，可以清晰的发现其边缘电极引线处和内部某些区域的电阻较 高，表明在湿热测试环境中，边缘电极引线和组件导电膜的粘接受到破坏，同时组件内部的 某些区域的硅膜发电层亦受到损伤，从而导致薄膜硅组件串联电阻的升高和并联电阻的降 低，造成薄膜硅组件输出功率下降，这对优化薄膜组件的制造工艺，优化开发新的薄膜硅组 件封装技术，提高薄膜硅组件的可靠性具有指导作用。 关键词：关键词：红外热成像技术; 薄膜硅; 加速环境老化测试；激光划线; 关键词关键词：： 1项目来源：企业自主研发项目 作者简介：王大伟 博士 激光及封装技术主管 保定天威薄膜光伏有限公司，主要从事薄膜 光伏电池封装技术和新产品的研究开发工作。 Email：wangdawei@ 1 引言1 引言 均为双玻组件，采用 EVA进行封装，没有采 1 1 引言引言 目前已经产业化的薄膜太阳能电池分 用其它的边缘密封处理，组件的尺寸为 为薄膜硅电池，铜铟镓硒电池和碲化镉电 1.1m×1.3m，发电层为非晶薄膜硅。 池，薄膜硅电池以其本身不含有毒元素，被 热成像仪是采用 Thermo Sensorik 公司 广泛应用于大型光伏电站和小型光伏系统， 的热成像系统 TDL 640-XL，测试的电压为 尤其是光伏建筑一体化（BIPV）系统。晶体 170V。采用 Hitachi S-4800 扫描电子显微 硅太阳能电池不适合应用于 BIPV 系统，主 镜测试 SEM 图，光学显微镜图片是采用 要是晶体硅电池组件的外观不符合建筑对 Olympus的LEXT OLS4000激光显微镜系统测 于美观的要求，而铜铟镓硒电池和碲化镉电 试 ， 组 件 的 电 学 参 数 是 采 用 Wacom 池电池本身含有毒元素，对于环境具有潜在 Simulator 在标准测试条件下（辐照强度为 1000W/m2 o 的污染风险，尤其是在用户对组件是否有污 ，光谱为 AM1.5，温度为 25 C）进 染