多攻击线引起的串扰时延故障的TPG.pdfVIP

25卷 第11期 微 电子 学 与计 算机 Vo1．25 No．11 2008年 11月 M ICROELE( IoNICS COM口E)UTER November2008 多攻击线引起的串扰时延故障的TPG 颜学龙 ，梁晓琳 ，尚玉玲 ， (1桂林电子科技大学 电子工程学院，广西 桂林 541004；2西安电子科技大学 电路CAD研究所，陕西 西安 710071) 摘 要：探讨了一种串扰时延最大化算法，并且利用被修改的FAN算法，生成测试矢量．对于一条敏化通路，利用 被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线，使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延，从而实现更有 效的时延测试．利用了FAN算法的多路回退和回溯等主要特色，提高了测试生成算法的效率．实验结果表明，沿着 任何临界通路传播的受害线相耦合的攻击线被适当地激活，并且可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试 矢量生成 ． 关键词：时延故障；多攻击线；自动测试矢量生成；FAN算法 中图分类号：TP302 文献标识码：A 文章编号：1000—7180(2008)11—0153—04 TPG forCrosstalk·InducedDelayFaultsbyM ultipleAggressors YAN Xue—long ，LIANG Xiao-lin ，SHANG Yu—ling， (1SchoolofElectronicEngineering，GuilinUniversityofElectronicTechnology，Guilin541004，China； 2CAD Institute，XianUniversityofElectronicTechnology，Xina 710071，China) Abstract：Thispaperdiscussesacrosstalkdelaymaximizationalgorithm．nadbyusingrevisedFANalgorithm testvectors aregenerated．Forasensitizationpath，thecorrespondingaggressorsnadvictim areactivatedappropriatelybyusingre— visedFAN algoritmh ，SOthatthecircuitinthewontcasehasinducedthegr~testpathdelay，nadmoreeffectivedelay testisachieved，ByusingbacktraceandbacktrackofFAN algoritmh ，theefficiencyoftestgenerationalgoritmh hasbe impmvde ．Experimentalresultsshow thatmultipleaggressorscouplde toavictim lyingalong apathcanbeproperlyacti— vatde ，nadthealgorithm canbeappliedtothecircuitsofreasonablesizes． Keywords：delayfault；multipleaggressors；automatictestpatterngeneration；FAN algoritmh 试生成，由于遗传算法收敛速度相对较慢，特殊问题 1 引言 需要特殊的编码方式． 串扰噪声 已成为在深亚米工艺下造成电路功能 文 中探讨了一种串扰时延最大化算法，并且利 错误的一个主要原因，对串扰时延测试 已成为一个 用被修改的F