PCB+AOI检测中微小缺陷成像分析和检测.pdfVIP

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No.5 产品检测与可靠性InspectionandReliability 印制电路信息2013 PCB AOI检测中微小缺陷成像分析与检测 Code:S-106 Paper 邹美芳金刚 (北京凌云光视数字图像技术有限公司,北京100195) 摘要 自动光学检测(AOI)已成为PCB检测的主要方式,线路板微小缺陷检测对于AOI系统是 严峻的挑战。研究线路板微小缺陷的成像问题。运用成像理论,研究了欠采样条件下 微小缺陷的成像特点,分析了缺陷尺寸与像素分辨率的比例及采样相位对成像的影响, 并进行了实验验证。该研究对PCBAOI系统的设计和检测性能分析有重要意义。 关键词 线路板检测自动光学检测;欠采样成像;微小缺陷检测 中图分类号:TN41文献标识码:A 文章编号:1009—0096(2013)05—0018—03 0Iofsmallsizeedefectdetectlninr乙PCB Inspection ZOU JIN Gang Mei-fang AbstractAutomatic hasbeen tocontrolthe ofPCB. OpticalInspectiontechnologywidelyapplied quality It’Saserious to smallsizedefectPCBAOI this the of probleminspect by system.Inpaper,weanalyzepaRem inPCBAOI.The ofthree resolutionand factors,defect’S under-samplingimaging relationship size,pixel sampling is tothe ofPCBAOI. studied.The result phase,are experimentpresented.It’Simportantdesign wordsPrintCircuitBoard OpticalInspection;Under-Sampling Key Inspection;Automatic Imaging 1 概述 大增加系统成本,减小了成像景深,同时极大地降 低了系统的检测速度。如何在微小缺陷检测能力和 自动光学检测(AOI)已成为PCB缺陷检查的主 其它与系统像元分辨率有关的工程指标之间做出平 要方式。AOI系统中,缺陷清晰可靠的成像,是缺陷

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