混合信号SoC+联合测试方案设计.pdfVIP

第XX 卷 第x 期 中 国 测 试 学 术 会 议 Vol.XX, No. X 2011 年XX 月 XXX. 2011 混合信号SoC 联合测试方案的设计 杨舟 王红 杨士元 清华大学 自动化系，北京 100084 yangzhou04@mails.tsinghua.edu.cn Design of Joint Testing Scheme on Mixed SoC Yang Zhou, Wang Hong, Yang Shiyuan (Department of Automation, Tsinghua University, Beijing 100084, China) Abstract Testing of analog cores is one of the main problems in testing of mixed-signal SoC. DAC,ADC on chips are usually used for testing analog cores. The author designed a