测厚仪原理.doc

2.2、测厚仪工作原理 对于X射线，在其穿透被测材料后，射线强度I的衰减规律为 式中 I0———入射射线强度； μ———吸收系数； h———被测材料的厚度。 当μ和I0一定时，I仅仅是板厚h的函数，所以测出I就可以知道厚度h。 X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。 X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。 在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。参考资料： 楼上没有给出公式，就等于没有说出重点，因此不要轻易的COPY。 简单的说，就是射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：I=Ir*EXP（-UX）,Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。 对于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。 射线检测仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温湿度记录仪 温度记录仪 分享 举报| 83 次阅读 | 0 个评论 测原理? ?作者：allen???????? 1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。它通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。 X射线具有很强的穿透能力。在媒体的界面，它的折射率很小，几乎为1。从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。 由韧致辐射产生的X射线，具有连续谱线。它的波长取决于电场的电压和场内的电子流。其强度表示为： I= 其中，K----系数；i------管电流；?U-----管电压；Z-----靶的原子序数。? 穿透物体后，射线的强度为：I1=Io?X?exp(-ud)，射线入射强度减弱一半的吸收物质厚度称为半价层。　 宽容度（L）指胶片有效密度范围对应的曝光范围。在胶片特性曲线上，就用接近 在线部分的起点和终点在横坐标上相对应的曝光量对数表示，显然梯度大的胶片其宽容度必然小。　 线型象质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区一端（被检区长度的l／4部位）。金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，钢丝置于外侧。当射线源一侧无法放置象质计时，也可放在胶片一侧的工件表面上，但象质指数应提高一级，或通过对比试验，使实际象质指数达到规定的要求。象质计放在胶片一侧工件表面上时，应附加“F”标记以示区别。中心透照环焊缝时，每隔如”放置一个象质计。多个管子接头在一张底片上同时显示时，至少应放一个象质计，且置于最边缘的那根管子上。 象质计的线径d与线号《象质指数》之间的关系： d＝?de，z＝?6－10lgd 金属丝象质计的相对灵敏度：?S?=?A?X?10O％，如一底片上可识别的最小线径，照厚度。 射线照相对比度公式：? 射线照相对比度（底片对比度）