在ITS+9000测试系统上开发存储器测试程序.pdfVIP

在I碣9000测试系统上开发存储器测试程序 北京市7227信箱李英黄川南 集成编程调试环境，提供了功能强大的AGP功能和调试支持，方 便用户存储器测试程序的开发。本文介绍了ITs9000测试系统的 APG工作原理以及使用APG开发存储器测试程序的方法。 ITs9000 Mx超大规模集成电路测试系统是九十年代斯伦贝 谢公司ATE推出的40／80MH测试系统。由于采用了sPP技术，以 及基于xwindows的纯图形AsAP软件，集成的编程／调试环境，大 大加快了用户测试程序的开发。 对于存储器测试程序的开发，ITs9000测试系统提供了算法 图形发生器(APG)选件。APG由安装在高速控制机柜(Highspeed contr01 speed 据收集存储板和安装在高速机柜(Hlgh crate)里的APG缓 冲板组成。 一、算法图形发生器(^PG) 算法图形发生器(APG)主要由两个独立的14位行、列地址 产生器和一个32位的数据产生器构成。图一是APG的工作原理图。 行地址产生器和列地址产生器的结构基本相同，每个地址产生器 包括两个计数器A、B，能够执行地址的加载、保持、增一、减一 操作，两个计数器的地址输出送入算术逻辑单元(ALu)进行运算， ALu提供选择A、选择B、取反、加运算、减运算。ALu产生的地 址经过编码存储器匹配成被测器件的实际地址。 数据产生器包括DA、DB两个移位寄存器，可以对数据进行 加载、左移、右移操作，输出的数据可以来自DA，也可以来自DB。 APG产生的行、列地址和数据最后经过APG多路选择器连接刘用 户指定的管脚通道。表一是APG提供的运算功能。 二、在测试程序中使用^PG ITs9000 Mx测试系统的测试程序源文件由包括被测器件的 管脚定义、电平、时序、测试流程等信息的·c9K文件和包含周 期类型定义和测试矢量的·M9K文件组成。 要使用APG功能，必须在·c9K的管脚定义部分把APG的地 址、数据赋给用户指定的管脚通道，格式如下： PINGROUP{ Reserved—X—APG—Fl=(pindefs) Reserved—X—APG—F2=(pindefs) Reserved—y—APG—Fl；(pindefs) Reserved—y—APG—F2=(pindefs) Reserved—d—APG—Fl=(Dindefs) Reserved—d—APG—F2={Dindefs)) 这些管脚通道的测试矢量的来源可以在主程序、子程序和APG 之间动态切换。 APG算法只能放在子程序中，并在主程序中调用。一些跳转、 循环等指令允许在子程序中使用。·M9K文件中必须包括“APG” 之前。一个使用了APG的矢量文件可能具有下面的格式，其中“#” 表示矢量数据来源于APG。 APG SUBROUTING—F WALK： INC Y=A：0 l WRITE(】【；A：0 1) D=A：0XFF】(D枯D社D撑1 RETWALK Y=A 1 TSX{X=AD=A)(D社D社D社11) MAIN—F： DO 1 CALLWALK DOl TSX(D0 1) 31 通过使用APG硬件提供的加载、保持、减一、增一、移位 等地址、数据产生方法和子程序提供的跳转、循环等指令，可以 很方便的实现存储器测试所用的各种测试图案。斯伦贝谢的验机