闪存芯片（NOR）编程特性与可靠性的研究.pdfVIP

维普资讯 第28卷第3期 苏 州 大 学 学 报 (工 科 版) Vo1．28 No．3 2008年6月 JOURNALOFSUZHOUUNIVERSITY(ENGINEERINGSCIENCEEDITION) Jun．2008 文章编号：1673—047X(2008)03—0064—05 闪存芯片 (NOR)编程特性与可靠性的研究 范娅玲 【1．苏州大学电子信息学院，江苏 苏州 215021；2．飞索半导体(中国)有限公司，江苏 苏州 215021) 摘 要：NOR型闪存是两大主要闪存之一，是研发其他融合性产品的基础，所以更好地理解NOR型 闪存具有基础作用。而擦除失效和可靠性问题是NOR型闪存存在的主要问题。针对NOR型闪存 在低温擦除时的失效问题进行试验分析，以期找到解决擦除失效的根本方法或降低擦除失效率，并 保证产品的可靠性不受影响。这对未来的融合性产品也有一定的参考意义。 关键词