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运算放大器的闭环参数测试 北京华峰嗣4控技术公司 孙铣 段宁远 摘要 本文介绍了运算放大器闲环参数的测试原理，分析了影响运算放大器闭环参数测 试精度和稳定性的诸多原因和因素，履所采取的针对性措施，还探讨了闭环参数的测试精 度、测试稳定性和测试适应性的评价问题．同时介绍了北京华峰测控技术公司研制的STS 2107B运算放大器电压比较器测试系统． 关键词 运算放大器、闭环参数、测试精度、稳定性、适应性． 运算放大器闭环参数的测试原理 国家标准GB3442-86和GB 6798—86参璺国外标准，规定了运算放大器(以下简称 运放)和电压比较器的测试方法的基本原理，其主要参数的基本测量线路见图1． 图l运算放大器闭环参数测量原理图 图中DuT为被测运放，A为辅助运放．两级运放构成负反馈闭环系统，其闭环增 益由输入电阻Rl和反馈电阻RF的比例决定．为了得到足够增益，通常选用500倍或 1000倍．器件测试程控电源V+和V-分别向被测运放提供所需的正、负电源电压，被 测运放的输出端电压可由外接偏置电压源V通过电阻Rl和R2进行控制，以获得测试 所需的vo值．辅助运放的输出端可测得所需的vE值．电阻Rs用于被测运放输入偏 置电流的采样． 采用辅助运放的闭环测试参数主要有以下几个： 1．输入失调电压VIo． 2．输入偏置电流TB+’IB．． 3输入失强电流In 115 4．开环电压增益AvD． 5共模抑制比KcMR． 6电源电压抑制比KsvR‘kvR一． 在这些参数中失调电压VIo是最基本的参数，其计算公式为： 踟：旦掘 见+胁 其它参数只是在不同的条件下测试VIo值，及进行不同的计算和数据处理． 二影响运算放大器闭环参数测试精度的原因分析 根据分析和实践，影响闭环参数测试精度的原因主要有闭环系统不稳定、工频干扰、 高频干扰、系统漏电．元件性能不良等，现分别分析如下： l闭环系统不稳定 闭环系统不稳定是影响运放闭环参数测试精度诸多原因中最主要的原因．所谓不稳定 主要是指系统闭环后有寄生振荡．当闭环系统存在寄生振荡时，通常会有如下一些表现： a 在被测运放输出端用示波器观测到有寄生振荡波形． b．在辅助运放输出端用示波器观测到有寄生振荡波形． c vlo参数在多次重复测试中表现数据不稳定或明显超差． d．AvD、Kc慷、bvR等参数在多次重复测试中表现出数据不稳或明显超差。 e 改变被测运放的环境参数(如被测运放两输入端间加数十微微法小电容，或用手 靠近被测运放的管壳和引脚)，V10参数数据发生明显变化． 应该特别说明，并不是用示波器在被测运放和辅助运放的输出端观测不到振荡波形就 一定没有寄生振荡，有时寄生振荡表现在被测运放的内部，而并不表现在其输出端，因此 要用多种方法去综合判断． 导致寄生振荡的主要因素有以下几种： a．辅助运放性能不良． 辅助运放性能不良，不能与各种被测运放构成稳定的闭环系统，会导致测试某些被测 运放品种时表现出寄生振荡．在很多测试系统中辅助运放不是由单级运放而是由多级运放 构成，虽具有可程控其性能的特点，但却更难获得理想的综合性能． b．闭环系统补偿不良。 辅助运放即便自身性能良好，由于闭环系统中的布线和相关元器件总会存在一些分布 电容和分布电感，特别是大型混合系统中为了满足各种模拟器件的测试，采用了由很多继 电器构成的测量矩阵，这就增加了系统的分布参数，进而影响闭环系统的总体幅频和相频 特性。 c．被测运放补偿不良 某些运放(早期外补偿产品)由于补偿不良，难于与辅助运放共同构成稳定的闭环系 116 统，因此需要进行特定的补偿．应该说明，运放产品样本上给出的典型补偿线路和补偿电 阻、电容的数值，只能做为典型应用的参考，在测试系统中由于辅助运放和分布参数的特