改进的C%2fO测井解释方法.pdfVIP

p六 改进的C／O测井解释方法 _——…… 张宗健李厚裕徐金武 韩清忠 (胜利石油管理局测井公司) (石油大学) 分和氯俘获能窗重台，因此影响了含油饱和度的计算精度。 利用不受地层水矿化度影响的非弹性／r■米替代俘获两／cn．可以消除地层农矿化度对C／O计算古油 饱和度的影响，但由于非弹性鞴／(j的测量精度较低，使汁箅精度难以达到油Ⅱl开发的需要。 本文从理论和实际到度两个方面探讨了C／O测井的环境棱正和解释方法．利用刻度井的刻度数据，解 决rC／O理论解释模型的技术难题，通过在孤岛油田和玻璃钢套管井中的应用，取得了较好的地质效果。 C／O测井的解释方法 C／O测井仪通过记录地层中各种元素的弹性散射和俘获射线的数量来反应地层巾各种 元素的含量。各种元素的非弹性散射谱和俘获谱的能窗如下： 非弹性散射谱 Si：I．528～1．945MeV 0：4．862-6．633MeV Ca：2，500～3．334MeV C：3．195～4．654MeV 俘获谱： Si：3．195～4．654MeV Ca：4．862～6．633MeV H：2．014～2．431MeV a：4．654～6．599MeV 线Si／Ca为俘获曲线。由于地层中的C1元素主要和中子发生俘获辐射反应，因此利用C／O 要受到地层水矿化度变化的影响。 一、快速直观解释 1．C／O和Si／Ca交会计算地层剩余油饱和度 和Si／Ca计算水淹层的剩余油饱和度的公式为： “。 、1’(1) s。：—Q．／—O+—,611)FS—i／C～a--一W1 Dc册 式中 Df／0一纯油层的c／o值和纯水层的C／O值的差值； DC／()——孔隙腰的函数，D∽)=0．6×声1“； C／0—一U的层的碳氧比值； S／Ca——’目的层的硅钙比值； w1——C／O和Si／Ca交会图上水线在C／O轴上的截矩； 女1——C—o和Si／Ca交会图上水线的斜率。 测量实验室中充磁淡水和油的砂岩、敷岩、自云岩而建立的。该公式假设所有的水线都落在 一条直线上。且其余混合岩性的岩石都落在两种岩石点的连线上。 刚l油与水的包络图 2．C／O和Si／Ca交会法的影响因素 (1)KI和wl参数的影响 对特窀的地区， 用拟台的方法找出水线，确定WI和Kl值，KI和Wl的误差会引起计算的含油饱和度的误 差。 (2)泥质的影响 在泥质含量商的储层中。泥质的影响主要是富含有机质的泥质含有：赶量的有机碳，使地 层的C／O值增高，从而使汁算的地层含油饱和度偏大。 (3)地层水矿化度的影响 获能窗大部分和氯元素的俘获能窗重合，蚓此，利用C／O和Si．／Ca计葬的剩余油饱和度要 矿化度的变化图。从图巾可看出，地层水矿化度对C／O测井曲线的影响是很大的。 扎隙鹰庐(弼) 图2 S／Ca．CaASi随岩性、孔隙度和矿化度的变化图 3．影响因素的校正方法 (1)泥质含量的校一方法 若假定地层的C／O测井值为}：}l!质部分和纯岩百部分的加权平均值，则有： C／O=(1一V’m)。(c／O)。r、7“。(c／o)～7，h C／O (C／O)～r·～’^ 即： (2)