双棱镜干涉(修改版).doc

双棱镜干涉 采用分波阵面的方法，可以获得相干光源，双棱镜颇具有代表性。虽然在激光出现之后，设法获得相干光源的工作已不如早期那样的重要，但双棱镜干涉在实验构思及装置调整等问题上仍然具有重要意义。 【实验目的】 1．了解双棱镜干涉装置及光路调整方法； 2．观察双棱镜干涉现象并用它测量光波波长； 3．利用CDD成像系统观测双棱镜干涉条纹，学习对CCD成像系统进行长度单位定标； 4．学习测微目镜的使用及测量。 【实验原理】 1．双棱镜干涉原理 双棱镜可看作是由两个折射棱角? 很小（小于1°）的直角棱镜底边相接而成。借助于双棱镜可使从光源S发出的光的波阵面沿两个不同方向传播。相当于虚光源S1及S2发出的两束相干光。在两束光交迭空间的任何位置上将有干涉发生，在该区域内可以接受并观察到干涉条纹。 双棱镜干涉条纹间距的计算方法，与扬氏双缝干涉的计算方法相同。在图2中，若S1和S2发之间的距离为d，S至观察屏的距离为D（当用测微目镜代替屏进行观察时，则为S至目镜的可动分划板间的距离），Po为屏上与S1及S2等距离的点，在该点处两束光波的光程差也为零，因而两波相互加强而成零级的亮条纹。在Po点的两边还排列着明暗相间的干涉条纹。 设S1和S2到屏上距Po点的距离为xk的Pk点的光程差为??， d、D x时，有 （?） ???满足： 时，即在处（k = 0、1、2 …），产生亮条纹； （k = 1、2…），产生暗条纹。 这样，两相邻亮条纹的距离为 （2） 如果测得D，d及便可由（2）式求出???值。 2．测量两虚光源之间的距离 D是两虚光源之间的距离，因而不能用直接的比较方法测得，但它们相当于两个发光点，它们之间的距离可用透镜成像的规律进行测量，常用的方法有物距像距法（略）和共轭法。 由图3可得，d为两虚光源时间的距离。如果物屏与像屏的距离D保持不变且大于4倍透镜焦距，移动辅助透镜，在屏上可获得一大、一小两次清晰的像（两个虚光源的像），分别用d1和d2代表两次成像时两虚光源的间距，则 （）要求：两次成像要清晰。如果光太强请考虑如何减小光强至拍摄到最佳的图像。 提醒：如果光路调整时不能用呈两次像从而不能用共轭法测定d时，请选用物距像距法测量d。由于辅助透镜为一组透镜组，测量前请先给出该透镜的光心，要求给出光路图和计算公式。 2．测量 （1）用CCD代替观察屏，调整双棱镜和CCD之间的距离，至显示屏上能观察到清晰、垂直的干涉条纹，拍摄此条纹并保存为bmp格式； （2）利用测量软件测量出干涉条纹间的间距（像素），测量三次； （3）记录此时扩束镜及CCD的所在位置，同时记录实验室提供各元件偏离轴心的修正值； （4）利用透镜共轭法成像原理，使两虚光源在CCD上能成两次清晰像，拍摄该清晰像，保存格式为bmp。 （5）利用测量软件测量出两虚光源像之间的距离（像素），测量三次； （二）定标 利用软件所测的实验数据，其长度单位都为像素，在实际运用中需将像元换算成mm单位。因此须通过定标求出1mm所对应的像素； 1．利用透镜共轭成像原理测量定标系数 k（像素/mm）； 2．采用钠灯为光源，定标尺为一玻璃质地的毫米尺； 3．实验过程中保证CCD与定标尺间距不变，仔细调节辅助透镜至显示器上能呈现出两次清晰的标尺像； 4．利用软件测出两次标尺像宽度。根据透镜共轭成像原理狭缝实际缝宽，计算出1mm所对应的像素的平均值（狭缝像应取上、中和下三个部位取值）。 5．利用公式（2）计算出激光的波长。 一．用测微目镜做为观测工具 （一）双棱镜干涉 1．调节 （1）实验在光具座上进行，各光学元件及仪器可按图5放置。利用观察屏，按同轴等高的要求调整各元件； 要求：移动聚焦透镜，使光汇聚于狭缝上以获得较强的入射光。 （2）调整狭缝目测至垂直状态，调节缝宽约1-2 mm，并使狭缝中心处于光路的光轴上。 （3）利用观察屏，根据大像追小像的原理将辅助透镜与狭缝调整至同轴等高； （3）调节测微目镜的目镜至十字叉丝清晰； （4）仔细调节可调狭缝的缝宽和狭缝的倾角直至通过测微目镜能看到20条左右清晰的干涉条纹； （5）缓慢调节测微目镜与双棱镜间的距离，观察干涉条纹疏密程度的变化，找出变化规律，并加以解释。 （6）用观察屏代替测微目镜，借助辅助透镜，根据透镜共轭法成像原理，仔细调节辅助透镜至在观察屏上能看到两次狭缝像； （7）用测微目镜取代观察屏，调节辅助透镜至在测微目镜的视场里能看到两次狭缝像。 2．测量 （1）调节测微目镜与双棱镜间的距离至通过测微目镜能看到约20条清晰的干涉条纹； （2）逐条测量干涉条纹的位置，利用Origin，求干涉条纹的间距（测量过程注意空回误差的存在）； （3）记录此