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第 29第 2期                           光 电工程                                Vo1.29,No.2 
 2002年 4月                          lectronic En 
文章编号:1003—501X (2002)02-0006-04 
               H—S波前传感器在测量光束质量 
                           因子 2中的应用 
                             胡诗杰,许 冰,侯 静 
                     (中国科学院光电技术研究所,四JIl成都 610209) 
    摘 要:仿真研究了It-S测量M 因子等光束质量指标的全过程和可行陛。结果表明,由H—S测 
    量的圆形光束的肘 因子值与原始光束的M 因子值基本相当,有很好的一致性。由此认为,H-s 
    除了可以评价远场测量系统探测得到的光斑的各种量,比如 PSF,0TF,衍射极限,环固能量等远场 
    特性,而且还可以从M 因子来说明光束质量的特性。 
    关键词:波前传感嚣;光束质量;波像差 
    中图分类号:O439          文献标识码:A 
              ApplicationofHartmann-ShackWavefrontSensorto 
                   MeasurementofBearnQualityFactorM 
                            HUShi-jle.XUBing,HoUJing 
        (InstituteofOpticsandElectronics.ChineseAcademyofSciences,Chengdu610209,Cl^ 
   Abstract:ThewholeprocessformeasufingM ufc~rere.beam qualityindexeswithHartmann-Shack 
    wavefrontsensorandfeasibilityaresimulated.Theresultsshow thatM factorvaltieofcircularbeam 
    measuredwithHartmann-Shackwavefrontsensorisbasicallyconsistentwiht 山e M factorvalueof山e 
    originalbema .From thiswecarlsee,apartfrom evaiuatirtgvariousspotparma eterssuchaspointspre~ 
    function。opticaltransofrufnction.diffraction limitandencircleenergyetc.far-fieldchraacteristics, 
    whichareobtainedindetectionbythefra-fieldmeasuringsystem。thequalitychraacteristicsofbema 
    callalsobe describedfrom M factorvalue、 
    Keywords:W ave.frontsefisors:Baem quality;Wave-frontaberration 
 引 言 
    aartnlan[i.Shack波前传感器 (以下简称H-S)在 自适应光学系统、光学元件镜面的表面面形检测、光 
学系统的像差检测等领域得到了广泛应用,并且还可望在光通讯、医疗等领域得到应用。由于其可以同时 
测量激光束的波前相位分布和强度分布的时间特性和空间特性,提供激光光束和光学系统的详细的动态信 
息,由这些信息可以得到激光束的近场和远场的详细情况,因此H.S也可应用于光束质量的动态和静态检 
测与诊断 ”。 
    H.S在光束质量诊断方面,文献[1】分析了由H.S探测得到的近场相位通过Fourier变换的一些远场特 
性,诸如PSF和OTF。文献[2】分析了波像差与光束质量指标的关系,并给出了波像差与光束质量之间的拟 
台关系式 。H.S还可用于评价衍射极限和环围能量等远场特性口】,但基于H.S的M 因子测量没有作过介 
   收稿 日期;2001—10—18; 收到傩改稿
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